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少子寿命测试仪 BCT-400/BLS-I

品牌:
产地: 美国
型号: BCT-400/BLS-I
样本: 下载
报价: ¥29.5万
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核心参数

产地类别: 进口

少子寿命测量范围: 0.1us-15ms

贯穿深度: 3mm

样品尺寸: 210*210mm²

电阻率测量范围: 0.15-300Ohm.cm

测试材料: 硅棒

产品介绍

BLS-I/BCT-400少子寿命测试仪


●非接触方式量测真正意义上的硅块少子寿命

●涡电流法量测技术符合SEMI最新的PV13标准

●相比业界其他少子寿命测试仪BLS-I/BCT系列是性能更优越的少子寿命测试仪

Wafer厂品质监控必不可缺的量测设备,拥有广泛的客户群。

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一、            产品概述

BLS-I/BCT-400型号少子寿命测试仪可以量测P型或者N型单晶或者多晶硅块少子寿命,不需要表面钝化处理就可以量测少子寿命。少子寿命的量测对于监控硅块在长晶过程引入的缺陷或者污染物造成的缺陷有着重要的意义。通过使用少子寿命测试仪BCT-400可以直接判断硅块的质量好坏。BLS-I可以量测表面不平的硅块样品。而不同于BLS-IBCT-400只能量测表面平坦的硅块。

二、            产品性能

主要应用:

量测高纯度硅少子寿命(范围在1ms-5ms

量测掺硼的CZ 单晶硅少子寿命

量测多晶硅的少子寿命,陷阱浓度等

其他应用

量测B-O缺陷,铁杂质浓度,以及表面的损伤

监控CZFZ单晶,多晶硅等硅片质量

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售后服务
保修期: 1年
是否可延长保修期:
现场技术咨询:
免费培训: 6人次技术培训,直到客户掌握软件为止。
免费仪器保养: 3个月一次
保内维修承诺: 免费更换失效的硬件,提供免费的技术支持和服务。
报修承诺: 48小时达到客户现场
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少子寿命测试仪BCT-400/BLS-I的工作原理介绍

少子寿命测试仪BCT-400/BLS-I的使用方法?

BCT-400/BLS-I多少钱一台?

少子寿命测试仪BCT-400/BLS-I可以检测什么?

少子寿命测试仪BCT-400/BLS-I使用的注意事项?

BCT-400/BLS-I的说明书有吗?

少子寿命测试仪BCT-400/BLS-I的操作规程有吗?

少子寿命测试仪BCT-400/BLS-I报价含票含运吗?

BCT-400/BLS-I有现货吗?

工商信息

企业名称

北京华通特瑞光电科技有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

911101057642342106

成立日期

2004-06-21

注册资本

500

经营范围

联系我们
北京华通特瑞光电有限公司为您提供少子寿命测试仪 BCT-400/BLS-I,nullBCT-400/BLS-I产地为美国,属于进口少子寿命测试仪,除了少子寿命测试仪 BCT-400/BLS-I的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多少子寿命测试仪,北京华通客服电话400-860-5168转4891,售前、售后均可联系。

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