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虹科Onyx系统应用
仪器应用
发布时间：2023/02/01
简介：
虹科ONXY系统基于太赫兹技术，现已对石墨烯、聚合物、复合材料、薄膜半导体等材料实现了电参数的检测，可测材料广泛，为光伏、半导体、电子、材料研究等诸多行业提供了无损、非接触式、高精度与快速的电参数表征手段。
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