薄膜测量仪

总部位于德国柏林科技园区的SENTECH仪器公司，已成为光伏生产设备世界市场之 一.我们是一家快速发展的中型公司，拥有60多名员工，他们是我们有价值的资产我们団 队的每个成员都为公司的成功做出贡献，我们总是在寻找与我们志同道合的新工作伙伴，我 们诚挚期待您的加入。

薄膜测量仪器

反射膜厚仪RM 1000和RM 2000

扩展折射率指数测量极限我们的反射仪的特点是通过样品的高度和倾斜调整进行精确的单光束反射率测量，光学布局的高光导允许对n和kffl 行重复测量，对粗糙表面进行测量以及对非常薄的薄膜进行厚度测量.
紫外-近红外光谱葩围
RM 1000 430 nm-930 nm
RM 2000 200 nm - 930 nm
高分辨率自动扫描
反射仪RM 1000和RM 2000可以选配x-y自动扫描台和自动扫描软件、用于小光斑尺寸的物镜和摄像机。

综合薄膜测量软件FTPadv Expert

宽光谱范围和高光谱精度
SENresearch4.0光谱椭偏仪覆盖宽的光谱范围，从190 nm（深紫外）到3500 nm（近红外）。 傅立叶红外光谱仪FTIR提供了高光谱分辨率用以分析厚度高达200|jm的厚膜。
没有光学器件运动（步进扫描分析器原理）
为了获得测量结果,在数据采集过程中没有光学器件运动。步进扫描分析器（SSA）原理是SENrsearch4.0光谱椭偏仪的一个独特特性。
双补偿器2C全穆勒矩阵测量
通过创新的双补偿器2C设计扩展了步进扫描分析器SSAJ京理，允许测量全穆勒矩阵。该设计是可现场升 级和实
现成本效益的附件。
SpectraRay/4综合椭偏仪软件
SpectraRay/4是用于先进材料分析的全功能软件包,SpectraRay/4包括用于与引导图形用户界面进 行研究的交互
模式和用于常规应用的配方模式.

激光椭偏仪SE400adv

亚埃精度稳定的氣氤激光器保证了 0.1埃精度的超薄单层薄膜厚度测量。
扩展激光欄偏仪的极限
性能优异的多角度手动角度计和角度精度优越的激光椭偏仪允许测量单层薄膜和层叠膜的折 射率、消光系数和膜厚.
高速测量
我们的激光椭偏仪SE 400adv的高速测量速度使得用户可以监控单层薄膜的生长和终点检 测，或者做样品均匀性的自动扫描。

综合薄膜测量软件FTPadvExp

测量n, k,和膜厚
该软件包是为R（入）和T（入）测

量的高级分析而设计的。
查层膜分析
可以测量单个薄膜和层畳膜的每一层的薄膜厚度和折射率.
大量色散模型
集成的色散模型用于描述所有常用材料的光学特性。利用快速拟合算法，通过改变模型参数
将计算得到的光谱调整到实测光谱。