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引脚元器件共面性测试仪

2019/06/16 13:15

阅读:699

分享:
应用领域:
电子/电气
发布时间:
2019/06/16
检测样品:
电子元器件产品
检测项目:
引脚移位
浏览次数:
699
下载次数:
参考标准:
IC封装器件引脚元器件共面性测试仪

方案摘要:

本仪器采用强大的测量软件,能高效率的检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状,1、元器件共面性测试、引脚移位检测、引脚高度错误检测、引脚面积测量、直径、角度、不规则面积测量、手轮可调节光栅、非刺眼型光源、高精度XZ轴测距、SPC过程统计

产品配置单:

分析仪器

精密影像测量仪

型号: EVM-G

产地: 北京

品牌: 品智创思

¥3.5万

参考报价

联系电话

方案详情:

共面性测试仪用于准确且多样性地对各种IC封装器件的引脚进行测量。引脚的共面与否、是否有移位和尺寸大小均可通过软件记录和存储。测试过程中,IC封装器件的引脚放置于LED阵列光源形成的可调节细格光栅前,器件的左右移动通过仪器侧面的手轮控制。

1560662215(1).jpg

共面性测试仪主要特点:
1
、元器件共面性测试
2
、引脚移位检测
3
、引脚高度错误检测
4
、引脚面积测量
5
、直径、角度、不规则面积测量
6
、手轮可调节光栅
7
、非刺眼型光源
8
、高精度XZ轴测距
9
SPC过程统计

共面性测试仪的应用

        软件方面,引脚成像于电脑显示器上,并可进行测量,同时通过器件的移动可逐一检测各个引脚高度是否一致,高精度的XZ轴测微距头保证了测试的准确性。所有数据可以以记事本或EXCEL表格形式存储于电脑内,方便调用。同时开放SPC过程统计功能供参考。


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