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解决方案

台式扫描电镜用于观测不导电样品

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纳米微观观察
随着科技的迅猛发展,光学检测已无法满足对材料领域微观结构观察的需要。而传统大型扫描电镜价格高昂,使许多有微观结构观察需求的客户望而却步,由此台式扫描电镜凭借高性价比、维护成本低、操作简单便捷等优势逐步走上舞台,逐渐成为材料领域用户常规的检测工具。

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CUBE-Ⅱ桌面扫描电镜

CUBE-Ⅱ

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材料类产品制样
光镜电镜联用技术(CLEM)实现对同一样品将 荧光显微学分析和 电子显微镜分析 的相关联。这一方法实现光镜下对大区域的高效成像和电镜下对感兴趣区域的快速检测。

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