2020/02/05 15:04
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为探究霜霉病菌在侵染黄瓜叶片的过程,进而确定霜霉病的潜育期,沈阳农业大学的张妍等人利用三英精密的nanoVoxel型 X射线显微CT观察黄瓜叶片内部的整体结构和不同位置的切面,利用分析软件计算出孔隙率,从而确定病菌侵染时间、位置和潜育期时间,为病菌侵染叶片后,其生理变化的研究提供有力的依据
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X射线显微CT对梯度记忆合金微观结构的检测方案
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