芯片测试器件测试说明

无锡冠亚

2019/03/05 16:07

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　　芯片测试器件在对各种芯片测试的过程中，需要对其可重复性和可复制性进行测试，那么，无锡冠亚的芯片测试器件在测试的时候怎么运行的呢？需要注意什么呢？

　　在运行芯片测试器件的时候，测试标准、测试方法、测试仪器、测试人员、环境因素都是能够影响芯片测试器件的测量结果，芯片测试器件的稳定性和一致性的一个指标。对于半导体测试设备，这一指标尤为重要，可重复性指的是相同测试设备在同一个操作员操作下反复得到一致的测试结果的能力。可复制性是说同一个测试系统在不同操作员反复操作下得到一致的测试结果的能力。所有这些因素都会影响到每次测试的结果，测试结果的精度只有在确保以上5个因素的影响控制到较小程度的情况下才能保证。

　　芯片的电气测试可信度简而言之就是衡量一个芯片测试器件提供给使用者测试结果正确性的指标。一个电气测试可信度很高的测试设备无需作重复的retest，从而节省大量宝贵的测试时间。如果把一次测试下来的失效器件重测，其中有些可能会通过测试，原因在于原始的错误可能由测试设备造成的，而非器件本身。这样的失效被称为“非正常失效”，测试可信度可以通过衡量这些“非正常失效”的数量来计算。由此可见，芯片电气测试可信度很大程度上依赖于电气接触可靠性。具体的说，就是电气测试中各部件正确良好接触的几率。90%的电气测试可信度就表示平均100个被测器件中有90个获得良好接触而其他10个则遇到了电气接触问题。

　　外在的因素对于芯片测试器件的影响也是比较大的，所以，无锡冠亚芯片测试器件在性能以及参数方面更加平稳，运行更加靠谱。（内容来源网络，如有侵权，请联系删除。）