耐克特图像颗粒分析系统T180

执行标准

ISO13322-1:   2004; GB/T21649.1-2008

显微系统

物镜

4X、10X、40X、60X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组

目镜

1X、10X、16X 大视野摄像目镜

载物台

手动三维机械式载物台，尺寸：185mm×140mm，

移动范围：50mm×75mm，粗微同轴调焦，

微动格值：2μm,带锁紧和限位装置

光源

底部透射光源，6V 20W卤素灯,亮度可调。可选顶部金相落射式光源（带起偏振器）

总放大倍数

4倍——1600倍

摄像系统

最高分辨率

2048×1536

像素尺寸

3.2μm×3.2μm

成像元件

1/1.8英寸 progress scan CMOS

帧率

6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480

最高清晰度

900线

信噪比

小于42dB

敏感度

1.0V@550nm/lux/S

输出方式

USB2.0

实际观测范围

1-6000μm

软件功能

静态采集

将样品形貌拍摄为高清晰JPG图片

图片处理

使用多种画图工具对图片进行比较简单的处理

图像拼接

将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性。同时也可单张分析保存后再进行拼接，进一步提高了结果的准确性。

颗粒的自动处理工具集

自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。

比例尺标定

通过国家标准测微尺标定后，每次测试只须选择与物镜相对应的比例尺数值即可直接得到颗粒的实际大小数值。

单个颗粒数据

可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析。

任务管理机制

严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。

报告输出

将测试结果输出为报告，并可以自由修改报告样式。

整体分布特征参数

D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数

报告参数

整体频率分布累计分布

颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。

统计平均径

Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径

形状参数

长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据

个数统计

直接得到所观测的颗粒数量

样品缩略图

可以将样品彩色或黑白（可选择）缩略图显示到报告中

表头输入

可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中