核心参数
仪器种类: 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
行业专用类型: 通用
产地类别: 进口
元素分析范围: C(6)-Am(95)
分析含量范围: 1ppm-99.99%
能量分辨率: <140eV(Mn Kα)
探测器: XFlash 硅漂移探测器
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布鲁克(Bruker)Micro-XRF在刑侦领域的应用
微区X射线荧光成像光谱仪可针对非均匀或形状不规则样品进行元素定性、定量分析。其测量结果能够给出样品成分和表面相关元素的分布情况,甚至样品表面下元素分布信息。BRUKER微区X射线荧光光谱仪经过优化,能够对固体,液态,微小颗粒物等多种类型样品进行点、线和二维区域扫描(Mapping)快速成像、定量分析。 M4 TORNADO / M4 TORNADO PLUS,可对样品直接进行无损分析,无需制备样品。基于上述优点,使得其在刑侦举证领域有着广泛的应用。例如,射击残留物检测,笔迹纸张检测,犯罪现场玻璃碎片定量分析,血迹残留,假币/防伪标识快速鉴别,指纹残留鉴定等。
公安/司法
2022/10/08
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