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核心参数
产地类别： 进口
微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。
高通量镀层分析
FT110A 是一款台式 XRF 分析仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合高标准。
准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心，而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用，提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A 能够同时测量多达四层以及基材，将全天候支持您的设施满足高标准的行业电镀规范。
产品亮点
专为高通量生产而设计，来看 FT110A 如何支持您的质量控制。
强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果
对成品安全的无损检测
自动化功能提高生产力
分析多达四层和基材，加上电镀液
易于非专业操作员使用
测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987
大样品舱可容纳各种样品
可定制的选项以适合您的应用
FT110A | |
元素范围 | Ti – U |
探测器 | 正比计数器系统 |
样品舱设计 | 开闭式或开槽式 |
准直器数量 | 2 或 4 |
准直器下限 | 0.025 x 0.4 mm |
XY轴样品台选择 | 程控或固定 |
XY轴样品台行程 | 250 x 200 mm |
程控Z轴行程 | 150 mm |
样品尺寸上限 | 500 x 400 x 150 mm |
样品聚焦 | 聚焦激光和可选的自动聚焦 |
样品视图 | 摄像头视图和可选的第二广角摄像头 |
测量点识别 | 可选 |
软件 | X-ray Station |
产品对比
日立X荧光测厚仪FT110A的工作原理介绍
X荧光测厚仪FT110A的使用方法?
日立FT110A多少钱一台?
X荧光测厚仪FT110A可以检测什么？
X荧光测厚仪FT110A使用的注意事项？
日立FT110A的说明书有吗？
日立X荧光测厚仪FT110A的操作规程有吗？
日立X荧光测厚仪FT110A报价含票含运吗？
日立FT110A有现货吗？
企业名称
日立分析仪器（上海）有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
310000400383788
成立日期
2004-05-27
注册资本
40
经营范围
生产精密仪器和设备、精密仪器、设备的维修,销售自产产品并提供售后服务。非自产产品的上述同类商品的批发,进出口,相关技术服务和售后服务。【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】
日立分析仪器
公司地址
上海市闵行区黎安路1601-1609号5幢
客服电话
公司名称： 日立分析仪器
公司地址： 上海市闵行区黎安路1601-1609号5幢 联系人： 倪小姐 邮编： 201199 联系电话： 400-860-2717
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