纳米尺度的红外光谱和化学成像技术

s-SNOM 近场光学显微镜应用案例

散射式近场光学显微镜（s-SNOM）是一种先进的近场光学技术，使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射，从而获得更高的空间分辨率。s-SNOM广泛适用于无机物和有机物，用于表面等离子光子学，激子极化子，强电子光联材料，纳米天线，超结构等的研究。

AFM-IR纳米红外在半导体行业的应用

基于光热诱导的AFM-IR纳米红外技术，采用AFM探针作为探测器，检测材料在中红外光源触发下产生的热膨胀信号，进而获得纳米区域的红外光谱和红外成像。可检测微电子器件上的有机污染物，进行未知物成分鉴定。

快速扫描纳米红外光谱仪 样本

纳米红外光谱系统（nanoIR系列）是美国Anasys仪器公司于2010年研发的基于原子力显微镜（AFM）的材料表征工具。其采用独有专利的光热诱导共振技术（PTIR，也称AFM-IR），使红外光谱的空间分辨率突破了光学衍射极限，提高至10纳米级别。在得到微区形貌，表面物理性能的基础上，进一步帮助研究人员全面解析样品表面纳米尺度的化学信息。

AFM-IR纳米红外在高分子聚合物中的应用

基于光热诱导的AFM-IR纳米红外技术，采用AFM探针作为探测器，检测材料在中红外光源触发下产生的热膨胀信号，进而获得纳米区域的红外光谱和红外成像。广泛用于高分子材料，聚合物共混物，复合材料，异质结构，单分子层，纳米纤维等材料领域。