2017-11-13 14:42
浏览:57次
分享:资料摘要:
下载本篇资料:
相关资料
散射式近场光学显微镜(s-SNOM)是一种先进的近场光学技术,使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射,从而获得更高的空间分辨率。s-SNOM广泛适用于无机物和有机物,用于表面等离子光子学,激子极化子,强电子光联材料,纳米天线,超结构等的研究。
基于光热诱导的AFM-IR纳米红外技术,采用AFM探针作为探测器,检测材料在中红外光源触发下产生的热膨胀信号,进而获得纳米区域的红外光谱和红外成像。可检测微电子器件上的有机污染物,进行未知物成分鉴定。
基于光热诱导的AFM-IR纳米红外技术,采用AFM探针作为探测器,检测材料在中红外光源触发下产生的热膨胀信号,进而获得纳米区域的红外光谱和红外成像。广泛用于高分子材料,聚合物共混物,复合材料,异质结构,单分子层,纳米纤维等材料领域。
基于光热诱导的AFM-IR纳米红外技术,采用AFM探针作为探测器,检测材料在中红外光源触发下产生的热膨胀信号,进而获得纳米区域的红外光谱和红外成像,可适用于纤维淀粉样变性机理研究,细胞,细菌等生命科学研究领域。