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沈阳华仪时代科技有限公司
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超薄切片技术在材料科学研究中的应用 – 应用实例及实验技巧视频及问答摘录
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制样超薄切片技术是一种常见的透射电镜制样技术，在材料科学领域有着非常广泛的应用，尤其适合有机高分子材料和无机粉体材料，可以非常简单方便的获得纳米级切片，供透射电镜观察；对金属材料和其他无机材料也有一定的应用。另外，因为这一技术也可以非常方便的获得样品的截面信息，因此在扫描电镜和原子力显微镜制样方面也有一定的应用。
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成分XploRA PLUS是一款智能型的全自动显微拉曼系统，它集众多独特功能于一身，不仅性能卓越，而且使用便捷、分析快速。非常适合多用户操作以及多种样品的切换分析，是研究工作和分析中心的理想选择。
XploRA PLUS配备独有的SWIFT快速成像功能，可以实现超快速的共焦拉曼成像，是普通成像速度的10倍。真共焦设计使得它即使在超快速成像的条件下也能保证高品质的成像质量和空间分辨率。
除此之外， XploRA PLUS还具有无与伦比的扩展性，例如偏振拉曼、颗粒分析以及拉曼AFM联用等。
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徕卡电镜制样技术简介
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表面形貌注重于高端设备制样，可为以下设备提供完美的样品：如透射电镜、扫描电镜、原子力显微镜、光学显微镜等。尤其是在电镜领域应用广泛，在金属、陶瓷、高分子、生物等方面。
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联系方式：
公司名称： 沈阳华仪时代科技有限公司
公司地址： 辽宁省沈阳市浑南新区上深沟村861-1号沈阳国际软件园E01-7层 联系人： 陈经理 邮编： 110000
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