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武汉东隆科技有限公司
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解决方案
浅析高分辨率光学链路诊断仪（OCI）测试大插损光纤链路损耗
应用领域
半导体检测样品
其他检测项目
光纤链路损耗武汉东隆科技有限公司自研的高分辨率光学链路诊断仪（OCI）是基于光频域反射技术（OFDR），单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断，并且能轻松测试出光纤链路损耗情况。
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高分辨光学链路诊断仪OCI+精准测量多分支光链路损耗
应用领域
半导体检测样品
光电器件检测项目
光链路高分辨光学链路诊断仪OCI可以测试出耦合器中各个分路的损耗（分光比），各路损耗测试结果符合其实际损耗值。当测试光链路中出现多个分支的情况时，依然可以使用高分辨光学链路诊断仪OCI测试各个分链路的损耗情况。
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