纳米粒度仪高分辨能力的探究

长期以来，对于光学法粒度分析仪的评价主要集中在重复性和准确性两方面，以至于使用者主动或被动地忽视另一个评价仪器性能的重要指标——分辨力！ 这是因为现行标准中列出的计算方法使DLS的分辨力较低，且一直缺少评价光学法粒度仪分辨力的标准样品，想要定量评价其分辨力非常困难。为了解决这个问题，法国Cordouan 公司设计制造出具高有高灵敏度和高分辨力纳米粒度仪VASCO系列。

实验证明，无论是常规模型(General Purpose)，还是多峰模型(Multimodal)或Contin算法，即使DLS 纳米粒度分析仪也不能对30nm和100nm的NIST标准乳胶颗粒的混合样品给出正确的结果（图 1），而Vasco（Vasco Kin）却能完全分辨开这两种乳胶颗粒，验证了Vasco软件专有的BSL算法和Pade-Laplace算法具有超高分辨能力

图1. 30nm+100nm 的 NIST 标准物质混合样品

黄色峰是DLS 纳米粒度仪三种计算模式的测定结果；

      蓝色（Pade-Laplace）和绿色（SBL）是Vasco 的两种计算结果。

Vasco系列纳米粒度仪不仅有常规累积量算法（CUMULANTS），用于具有单分散趋势的单峰样品，而且具有多峰样品的 Pade-Laplace 专有离散数学方法。这种算法是“无组分数量假设的多指数函数分析（SVD）”，用于复杂的和/或多峰样品分析。Padé 给出与强度值相关联的离散粒度值，这种类似于质谱的离散峰的柱图表示方法可以一步一步地获得每个柱图的信息，具有极高的分辨率。

图2  Pade-Laplace算法中得到两种纳米颗粒混合体系离散的粒度分布（绿色）和主峰曲线（蓝色）

 Vasco系列纳米粒度仪可用于纳米科学、环境科学、功能化油墨，油田化学、锂电材料、催化剂、化妆品和食品等领域。Vasco KinTM 非接触测量的突出特点，结合极高的分辨率测定，为原位远程测定包装物及反应釜中的粒度分布及随时间的变化，为制药行业的反应监测和疫苗药针中的蛋白质聚集体纳米阶段的生成监控，提供了有效的技术手段