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解决方案

新型扫描探针显微镜(SPM)和扫描电子显微镜(SEM)关联成像技术介绍

应用领域

地矿

检测样品

稀土/稀有金属

检测项目

表面形貌,机械性能,电性能等
LiteScope™是一种独特的扫描探针显微镜(SPM)。 它设计用于轻松集成到各种扫描电子显微镜(SEM)中。 组合互补的SPM和SEM技术使其能够利用两者的优势。使用LiteScope™及其可更换探针系列,可以轻松进行复杂的样品分析,包括表面形貌,机械性能,电性能,化学成分,磁性能等的表征。

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Nenovision原子力显微镜(电镜原子力关联)

LiteScope™

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