2023/12/05 09:05
阅读:69
分享:方案摘要:
产品配置单:
皓天可程式高低温老化试验箱
型号: SMC--150G
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
¥3.5万
参考报价
联系电话
冷热冲击试验箱工作原理HT-TSD-100PF-2P
型号: HT-TSD-100PF-2P
产地: 广东
品牌: 皓天设备
¥23.5万
参考报价
联系电话
皓天 立式150L标准高低温试验箱
型号: SMC-150A
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
¥3.5万
参考报价
联系电话
可程式恒温恒湿试验设备皓天鑫
型号: 双门THB-012PF
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
¥3.65万
参考报价
联系电话
皓天设备 150L恒温恒湿实验箱
型号: SMB-150L
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
¥3.35万
参考报价
联系电话
皓天恒温恒湿试验机
型号: SME-270L
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
¥8.3万
参考报价
联系电话
紫外线人工加速老化试验机
型号: UV3-A
产地: 广东
品牌: 皓天设备
¥7.2万
参考报价
联系电话
方案详情:
高低温交变可靠试验有哪些方法及试验标准
高低温交变可靠试验的方法和标准如下:
一、方法
1. 设定温度范围:根据产品的使用条件和规定标准,确定测试的高低温范围,并设定温度梯度和保持时间。
2. 准备样品:选择代表性的产品样品,并确保其符合实验要求,如外观完好、功能正常等。
3. 设定测试装置:根据产品的特性和实验要求,选择合适的测试装置和设备。测试装置应具备温度控制功能,并能够精确地控制温度。
4. 进行试验:将样品放置在测试装置中,并按照设定的温度范围和保持时间进行高低温交变测试。在测试过程中,需要监测产品的温度变化、电气性能等相关参数。
5. 数据分析:根据实验数据,分析产品的性能和可靠性,包括机械性能、电气性能、化学性能等方面的测试和分析。
6. 编写报告:根据实验数据和分析结果,编写高低温交变可靠试验报告,报告应包括实验目的、实验过程、实验结果、结论和建议等内容。
二、试验标准
高低温交变可靠试验需要依据相关的试验标准进行,常用的试验标准包括:
1. GB/T 2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验B:高温试验。
2. GB/T 2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温试验。
3. IEC 60068-2-2:2007电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温试验。
4. IEIA 364:1987电信设备环境测试方法和相关标准。
5. MIL-STD-810F军用设备环境试验方法。
6. 其他特定产品的试验标准,如UL、CE等。
需要注意的是,不同的产品可能还需要满足其他特定的标准,因此在进行高低温交变可靠试验时,需要根据产品的特性和使用环境,选择合适的测试方法和标准。
下载本篇解决方案:
更多
汽车变速器冷热冲击试验方案
本方案旨在对汽车变速器进行冷热冲击试验,以评估其在严苛温度变化条件下的性能和可靠性。试验采用先进的皓天鑫冷热冲击试验箱,设定特定的低温、高温及循环冲击条件。试验样品为全新且性能完好的汽车变速器,通过安装在测试工装上并连接数据采集系统,实时监测转速、扭矩、油温等关键性能参数。试验包括预处理、低温冲击、高温冲击及温度循环冲击等步骤,每个步骤均有明确的温度、时间设定及运行要求。最终,根据试验数据的分析和试验后变速器外观检查,综合判断其性能和可靠性是否符合设计要求。
汽车及零部件
2024/03/04
轮胎耐高低温性能测试方案
本方案旨在评估轮胎在极端温度条件下的耐高低温性能。选用同一批次、规格相同且无缺陷的轮胎样品,利用能够精确控温的轮胎高低温试验箱进行测试。设备可在-50℃至+150℃范围内工作,温度波动度和均匀度控制良好,并配备相关测量仪器。试验包括低温(-50℃,保持 4 小时)、高温(150℃,保持 4 小时)及温度循环(从室温至-50℃再到 150℃,循环 10 次)试验。在各试验阶段按规定时间测量轮胎硬度,试验结束后测量拉伸强度、断裂伸长率等机械性能。通过分析硬度和机械性能的变化情况及变化率,判断轮胎耐高低温性能是否符合标准和设计要求,进而提出改进建议,为轮胎设计和生产提供参考。
汽车及零部件
2024/02/28
高温干燥箱在烘干塑料食品杯中应用方案
本方案主要研究高温干燥箱对塑料食品杯的烘干处理。通过设定不同温度(60°C、80°C、100°C),对同一批次的塑料食品杯进行烘干实验。在实验中,对样品进行预处理、称重,放入干燥箱后定时监测重量变化,以确定烘干终点。最终根据不同温度下的烘干时间、最终含水量以及样品质量状况(如变形、变色、脆化等),得出烘干温度和时间,为优化塑料食品杯烘干工艺提供科学依据和指导
电子/电气
2024/04/22
电子芯片高低温可靠性试验方案
本试验方案旨在评估电子芯片在高低温环境下的可靠性。选用多个相同型号和批次的电子芯片作为样品,利用高低温试验箱等设备,设置-40℃低温、+85℃高温及-40℃至+85℃的温度循环试验条件,并在各阶段测量芯片关键电性能参数。试验后对比初始参数,分析芯片性能变化,以判断其在高低温下的可靠性。该方案有助于提前发现潜在问题、保证产品质量、优化设计与制造工艺,并满足行业标准和客户需求。
电子/电气
2024/06/21