2023/11/16 11:37
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产品配置单:
皓天吊篮升降式高低温冲击试验箱TSC-50S-2P
型号: TSC-50S-2P
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
¥27.8万
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蓝色快速温变试验箱技术要求
型号: TED-800PF
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
¥18.8万
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高低温落球试验箱T-300PF-D 抗冲击性能测试
型号: T-300PF-D
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
面议
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东莞皓天SH160复合式盐雾试验箱
型号: SH-160
产地: 广东
品牌: 皓天设备
¥1.9万
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东莞皓天步入式试验箱WTHA-08L 高低温湿热
型号: WTHA-08L
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
¥25.8万
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可程式高低温湿热试验箱THB-512PF
型号: THB-512PF
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
¥7.69万
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皓天鑫紫外辐射箱HTUV1
型号: HTUV1
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
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方案详情:
皓天鑫150升冷热冲击试验箱有哪些优势
1. 体积小巧,适合空间有限的实验室或小型产品测试。
2. 高精度的温度控制系统,能够快速升温和降温,模拟出真实的环境变化。
3. 可以进行连续的冷热循环测试,模拟材料或产品在极端温度下的使用情况,评估其可靠性和耐久性。
4. 内部结构设计合理,能够防止温度梯度不均匀和温度波动,确保测试结果的准确性和可重复性。
5. 具有广泛的应用范围,可以测试各种类型的材料和产品,如电子元器件、汽车零部件、塑料、橡胶、金属等。
6. 具有可编程控制系统,可以根据测试要求进行自动化测试,提高测试效率和准确性。
7. 配备安全保护装置,可以在发生异常情况时及时停止操作,确保操作人员的安全。
主要技术参数如下:
1)工作室尺寸:500×500×600(深×宽×高,mm以下同)
2)储热室温度范围:+50 ~ +150℃
3)储热室升温时间:室温到+150℃≤30min
4)储冷室温度范围:-55℃~ +10℃
5)储冷室降温时间:室温到-55℃≤40min
6)冲击温度范围:-40 - +85℃
7)温度波动度:±0.5℃(恒定状态时)
8)冲击试验箱温度恢复时间:≤5min(-40℃ ~ +125℃范围内)
9)制冷系统:机械复叠式制冷/水冷
10)制冷工质:R404a/R23
11)试样重量: >30kg
12)安装功率:约35KW 13)高低温冲击试验箱满足以下标准:
(1)GB2423.22-89-试验Na
(2)GJB150.5-86
(3)MIL-STD-810D-503.2等
150升冷热冲击试验箱具有高精度、快速升温降温、连续循环测试、内部结构设计合理、应用范围广、可编程控制和安全保护等优势,是一种高效、准确的测试设备。
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汽车变速器冷热冲击试验方案
本方案旨在对汽车变速器进行冷热冲击试验,以评估其在严苛温度变化条件下的性能和可靠性。试验采用先进的皓天鑫冷热冲击试验箱,设定特定的低温、高温及循环冲击条件。试验样品为全新且性能完好的汽车变速器,通过安装在测试工装上并连接数据采集系统,实时监测转速、扭矩、油温等关键性能参数。试验包括预处理、低温冲击、高温冲击及温度循环冲击等步骤,每个步骤均有明确的温度、时间设定及运行要求。最终,根据试验数据的分析和试验后变速器外观检查,综合判断其性能和可靠性是否符合设计要求。
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2024/03/04
轮胎耐高低温性能测试方案
本方案旨在评估轮胎在极端温度条件下的耐高低温性能。选用同一批次、规格相同且无缺陷的轮胎样品,利用能够精确控温的轮胎高低温试验箱进行测试。设备可在-50℃至+150℃范围内工作,温度波动度和均匀度控制良好,并配备相关测量仪器。试验包括低温(-50℃,保持 4 小时)、高温(150℃,保持 4 小时)及温度循环(从室温至-50℃再到 150℃,循环 10 次)试验。在各试验阶段按规定时间测量轮胎硬度,试验结束后测量拉伸强度、断裂伸长率等机械性能。通过分析硬度和机械性能的变化情况及变化率,判断轮胎耐高低温性能是否符合标准和设计要求,进而提出改进建议,为轮胎设计和生产提供参考。
汽车及零部件
2024/02/28
高温干燥箱在烘干塑料食品杯中应用方案
本方案主要研究高温干燥箱对塑料食品杯的烘干处理。通过设定不同温度(60°C、80°C、100°C),对同一批次的塑料食品杯进行烘干实验。在实验中,对样品进行预处理、称重,放入干燥箱后定时监测重量变化,以确定烘干终点。最终根据不同温度下的烘干时间、最终含水量以及样品质量状况(如变形、变色、脆化等),得出烘干温度和时间,为优化塑料食品杯烘干工艺提供科学依据和指导
电子/电气
2024/04/22
电子芯片高低温可靠性试验方案
本试验方案旨在评估电子芯片在高低温环境下的可靠性。选用多个相同型号和批次的电子芯片作为样品,利用高低温试验箱等设备,设置-40℃低温、+85℃高温及-40℃至+85℃的温度循环试验条件,并在各阶段测量芯片关键电性能参数。试验后对比初始参数,分析芯片性能变化,以判断其在高低温下的可靠性。该方案有助于提前发现潜在问题、保证产品质量、优化设计与制造工艺,并满足行业标准和客户需求。
电子/电气
2024/06/21