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当前位置: 皓天鑫 > 解决方案 > 冷热冲击试验箱如何应用于电子电工产品的试验方法

冷热冲击试验箱如何应用于电子电工产品的试验方法

2021/09/13 08:37

阅读:125

分享:
应用领域:
电子/电气
发布时间:
2021/09/13
检测样品:
电子元器件产品
检测项目:
化学性质
浏览次数:
125
下载次数:
参考标准:
GB T 5170.2-2008

方案摘要:

电子电工产品在试验设备温度可调范围内,一般选取GB/T 2423.1和GB/T 2423.2标准中规定的有代表性的温度标称值。 低温:-65℃,-55℃,-40℃,-25℃,-10℃,-5℃等。 高温:+30℃,+40℃,+55℃,170℃,+85℃,+100℃,+125℃,+155℃,+175℃,+20O℃等。 根据试验和检验的需要,亦可选取其他温度标称值。

产品配置单:

前处理设备

皓天吊篮升降式高低温冲击试验箱TSC-50S-2P

型号: TSC-50S-2P

产地: 广东

品牌: 皓天鑫

¥27.8万

参考报价

联系电话

皓天升降式冷热冲击试验箱TSD-50S-2P

型号: TSD-50S-2P

产地: 广东

品牌: 皓天鑫

¥24.5万

参考报价

联系电话

方案详情:

电子电工产品在试验设备温度可调范围内,一般选取GB/T 2423.1和GB/T 2423.2标准中规定的有代表性的温度标称值。

低温:-65℃,-55℃,-40℃,-25℃,-10℃,-5℃等。

高温:+30℃,+40℃,+55℃,170℃,+85℃,+100℃,+125℃,+155℃,+175℃,+20O℃等。

根据试验和检验的需要,亦可选取其他温度标称值。

 

1、使试验设备降温或升温,自设备进人控温状态后稳定30 min(稳定时间最长不超过2 h),开始记录各测量点的温度和设备指示温度﹐每隔1 min记录一次,在30 min内共记录30次。

:当设备控制器的温度示值达到设定值偏差带时起,可视为进人控温状态。

2、温度变化速率的检验步骤

3、把试验设备调节到要求温度上,自设备进人控温状态后稳定30 min。

4、把试验设备调节到另-要求温度上,记录测量点的温度从温度范围的10%上升(下降)到90%所需的时间。

5、每5 min温度平均变化速率的检验步骤

6、把试验设备调节到要求温度上,自设备进人控温状态后稳定30 min.

7、按要求的变化速率使试验设备升温或降温至另--要求温度,在升降温过程中,每 1 min测量一-次测量点的温度。


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