2020/11/25 09:36
阅读:89
分享:方案摘要:
产品配置单:
东莞皓天1立方高低温试验箱恒温箱SMC-010PF
型号: SMC-010PF
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
¥4.58万
参考报价
联系电话
皓天鑫Hao Tianxin高低温试验箱SMD-80SP
型号: SMD-80SP
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
¥3.86万
参考报价
联系电话
皓天控温控湿SME-36PF 高低温交变试验箱
型号: SME-36PF
产地: 广东
品牌: 皓天鑫
面议
参考报价
联系电话
方案详情:
高低温湿热试验箱的制冷维修方法
高低温湿热试验箱维修的原理和工作过程则是分析故障判断故障的基础、只有深入了解设备的维修工作原理和工作过程,才能迅速地解决恒主,设备维修在运行过程中出现的各种问题。
高低温湿热试验箱又名恒温恒湿试验箱,高低温试验箱和恒温恒湿试验箱的维修都是一样的,只是高低温试验箱不存在恒温恒湿试验箱该有的湿度而已。下面我们来看看高低温湿热试验箱制冷方面的一个常见问题:低温保持不住
1. 故障原因:高低温湿热试验箱维修低温保持不住。
2. 故障分析:电气系统及
电气系统:
观察高低温湿热试验箱制冷压缩机在运行过程中是否能够启动,如果箱子的压缩机在运行过程中都能够启动,说明设备从主电源到各高低温箱压缩机的电器线路都正常,电器系统方面也就没有问题。
制冷系统:
①当电气系统都没有问题时,则继续检查制冷系统,首先检查两组制冷压缩机组,如果低温(R23)级压缩机的排气和吸气压力都较正常值偏低,而且吸气压力呈抽空状态,这就说明主制冷机组的制冷剂量明显不足。
② 再用手摸一下设备的主机组R23压缩机的排气和吸气管路,如发现排气管路的温度不高,吸气管路的温度也不低(未结霜),这也说明了主机组的R23制冷剂的缺乏。恒温恒湿试验箱、高低温试验箱维修的一个为主机组,另一个为辅助机组,在降温速率较大时,两组机组同时工作,在温度保持阶段初期,两组机组依然同时工作。
③ 待温度初步稳定下来,辅助机组就停止工作,由主机组来维持温度的降温及稳定,如果主机组R23泄露,会使主机组的制冷效果不大,由于降温过程中,两机组同时工作,故没有温度稳定不住的现象,而指示降温速率降低。
④ 在温度保持阶段,一旦辅助机组停止工作,主机组又无制冷作用,恒温恒湿试验机维修高低温试验箱维修内的空气温度就会缓慢上升,当温度上升到一定程度,控制系统就会又启动辅助机组来降温,然后辅助机组又停止工作,如此反复,便会出现低温度保持不住的故障现象。
至此,已确认高低温湿热试验箱的故障原因是主制冷机组的低温(R23)级机组的制冷剂R23泄漏。
3、高低温湿热试验箱维修方法:对设备维修的制冷系统进行查漏,用检漏仪和肥皂水相结合的方法来检查漏点在哪,如果发现是热气旁通电磁阀的阀杆裂了有细缝,则更换此电磁阀,如发现其它地方的泄漏,则用氧焊将泄漏处补焊完整,再对系统重新充氟,系统运行即可恢复正常。
下载本篇解决方案:
更多
汽车变速器冷热冲击试验方案
本方案旨在对汽车变速器进行冷热冲击试验,以评估其在严苛温度变化条件下的性能和可靠性。试验采用先进的皓天鑫冷热冲击试验箱,设定特定的低温、高温及循环冲击条件。试验样品为全新且性能完好的汽车变速器,通过安装在测试工装上并连接数据采集系统,实时监测转速、扭矩、油温等关键性能参数。试验包括预处理、低温冲击、高温冲击及温度循环冲击等步骤,每个步骤均有明确的温度、时间设定及运行要求。最终,根据试验数据的分析和试验后变速器外观检查,综合判断其性能和可靠性是否符合设计要求。
汽车及零部件
2024/03/04
轮胎耐高低温性能测试方案
本方案旨在评估轮胎在极端温度条件下的耐高低温性能。选用同一批次、规格相同且无缺陷的轮胎样品,利用能够精确控温的轮胎高低温试验箱进行测试。设备可在-50℃至+150℃范围内工作,温度波动度和均匀度控制良好,并配备相关测量仪器。试验包括低温(-50℃,保持 4 小时)、高温(150℃,保持 4 小时)及温度循环(从室温至-50℃再到 150℃,循环 10 次)试验。在各试验阶段按规定时间测量轮胎硬度,试验结束后测量拉伸强度、断裂伸长率等机械性能。通过分析硬度和机械性能的变化情况及变化率,判断轮胎耐高低温性能是否符合标准和设计要求,进而提出改进建议,为轮胎设计和生产提供参考。
汽车及零部件
2024/02/28
高温干燥箱在烘干塑料食品杯中应用方案
本方案主要研究高温干燥箱对塑料食品杯的烘干处理。通过设定不同温度(60°C、80°C、100°C),对同一批次的塑料食品杯进行烘干实验。在实验中,对样品进行预处理、称重,放入干燥箱后定时监测重量变化,以确定烘干终点。最终根据不同温度下的烘干时间、最终含水量以及样品质量状况(如变形、变色、脆化等),得出烘干温度和时间,为优化塑料食品杯烘干工艺提供科学依据和指导
电子/电气
2024/04/22
电子芯片高低温可靠性试验方案
本试验方案旨在评估电子芯片在高低温环境下的可靠性。选用多个相同型号和批次的电子芯片作为样品,利用高低温试验箱等设备,设置-40℃低温、+85℃高温及-40℃至+85℃的温度循环试验条件,并在各阶段测量芯片关键电性能参数。试验后对比初始参数,分析芯片性能变化,以判断其在高低温下的可靠性。该方案有助于提前发现潜在问题、保证产品质量、优化设计与制造工艺,并满足行业标准和客户需求。
电子/电气
2024/06/21