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电子产品高温低温可靠性测试方法高低温环境试验箱
电子产品高温低温可靠性测试方法高低温环境试验箱：
试验条件：将电子产品放入高低温试验箱通电老化
高温参数设置：温度45℃、湿度80% RH、时间24 hrs
低温参数设置：低温0℃、时间24 hrs
试验方法：
试验一：高温运行
1、样品应在不包装、不同点和正常工作位置的状态下放入具有室温的试验箱内，
2、箱内温度逐渐升温至所设置的温度，当电子产品达到温度稳定后，接通电源持续工作16小时，
3、样品断开电源，箱内温度降低至正常试验大气条件范围内的常温常压下，
4、恢复两小时；
5、对试验产品进行全方面的检测。
试验二：低温运行
1、电子产品应在不包装、不同点和正常工作位置的状态下放入具有室温的试验箱内;，
2、高低温试验箱内温度逐渐降低至所设置的温度，当样品达到温变稳定后搁置2小时，然后接通电源持续工作1小时；
3、样品断开电源，试验箱内温度降低至正常试验大气条件范围内的常温常压下，
4、箱内温度上升至正常试验大气条件范围内的常温常压下，
5、恢复两小时；
6、对试验产品进行全方面的检测；判定标准：
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