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半导体行业高低温老化性能测试方法
半导体行业高低温老化性能测试方法：
原理：
高低温老化试验箱可以对半导体器件进行恒温高低温老化测试，以了解器件的性能随时间的变化情况。通过控制恒温高低温条件，使半导体器件长时间暴露在高低温、潮湿等极端环境下，从而反复检测其性能的变化趋势及寿命，以评估其质量和可靠性。还可以对新开发的半导体器件进行可靠性测试，通过控制恒温高低温条件，测试其在恶劣环境下的性能稳定性。这种测试可以提早发现新器件的问题和不足之处，以便进行调整。还可以对半导体器件的质量和可靠性进行评估和证明，以保证它们能够在各种环境下稳定地运行。
测试方法：
1. 高温储存
测试条件：85℃±5℃
持续时间：1000h
2. 低温储存
测试条件：-40℃±5℃
持续时间：1000h
3. 温度循环
测试条件：-40℃～85℃
持续时间：200个循环
4. 湿热循环
测试条件：40℃～85℃，RH=85%
持续时间：10个循环
5. 高温高湿寿命测试
测试条件：85℃、85%RH
持续时间：1000h
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