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L系列台式测厚仪为金属表面处理行业多样化测量需求而设计, 满足汽车零部件，紧固件，五金器具，卫浴，管道配件，切割工具等大型样品的涂层厚度测量。
L系列配备博曼微聚焦X射线管作为能量源，和温度稳定的Si-PIN半导体探测器。宽带宽和多通道放大器可对辐射光子进行排序和计数。博曼XRF系统搭载先进的软件算法，可准确高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。
X射线光轴对准的微焦点摄像机，可识别样品的测量位置。对聚焦激光器控制的升降装置可容纳不同高度的测量样品。
企业名称
安柏来科学仪器(上海)有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(自然人投资或控股)
信用代码
913101075630524538
成立日期
2010-09-26
注册资本
人民币150.0000万元整
经营范围
一般项目:仪器仪表销售:仪器仪表修理;仪器仪表制造;工业自动控制系统装置销售;工业自动控制系统装置制造;机械设备销售;通用设备制造(不含特种设备制造);机械设备租赁;金属制日用品制造;家具零配件生产;家具销售:家具制造;五金产品制造;办公设备销售;文化、办公用设备制造;日用品销售;日用品批发;电子产品销售;机械零件、零部件销售;通用零部件制造;销售代理;采购代理服务:国内贸易代理;技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广;品牌管理.(除依法须经批准的项目外,凭营业执照依法自主开展经营活动)许可项目:检验检测服务;货物进出口.(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动,具体经营项目以相关部门批准文件或许可证件为准)
安柏来科学仪器（上海）有限公司
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上海市普陀区真北路3199弄2号东二楼
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