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硅片少子寿命测试解决方案

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可以测试较厚样品,测试寿命范围宽,无损检测 可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况。WCT一个高度被看待的研究和过程工具。QSSPC终身测量也产生含蓄的打开电路电压(对照明)曲线,与最后的I-V曲线是可比较的在一个太阳能电池过程的每个阶段。

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Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪

WCT-120

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