Nicomp纳米粒度仪数据说明

Entegris Nicomp®动态光散射（DLS）系统是一种易于使用的粒度和zeta电位分析仪。本技术文档显示了Nicomp的典型结果，并对声场的数据进行解析说明。

关键词:粒度分析仪；DLS；电位分析仪

1.  简介：动态光散射

DLS 技术是测量 1 nm 至约 10 μm 悬浮液粒径的理想方法（取决于颗粒密度）。Nicomp系统的简化光学图如图1所示。

粒子布朗运动产生的光散射导致探测器上的光字计数波动。波动的时间特征用于创建相关函数，由此确定平移扩散系数D。然后使用斯托克斯-爱因斯坦方程计算粒径R：

图 1. DLS光学器件

2.  结果解析‍

窄分布的聚苯乙烯乳胶标准品（PSL）的典型结果如图2所示。

图2. Nicomp DLS 结果

这是一个强度加权高斯分布，因此完整的结果可以用两个数字定义；平均值和均方差。但是DLS1的ISO标准建议应使用平均值和多分散指数PI报告结果。

ISO 22412-2008中使用的命名法在技术上是准确的，但在现实中很少使用。例如，用于强度加权平均直径的术语是 。在Nicomp软件中，这个值是平均直径。在其他供应商的软件中，这有时被称为Z平均值或Zave。因此，要按照 ISO %22412-2008 中的指导报告 Nicomp 结果，要展示的两个值是平均直径和方差 （PI）。

下面描述了图 2 中从左到右、从上到下显示的所有报告值。

AutoB. Adj. = 自动基线调整。当存在一些大颗粒或原始数据嘈杂时，相关函数的基线可能会不稳定。较高的Auto B. Adj 调整值表示数据存在噪声，可能需要更好的样品制备。

Ch 1.Data X1000 = 相关函数中通道 # 1 的内容。值越高，表示函数中的统计准确性越高。

Z-Average Diff Coeff= 斯托克斯-爱因斯坦方程中使用的扩散系数 D，用于将扩散系数转换为粒径。

3.  分布类型

图 2 所示的结果是高斯结果;完全由平均值和标准差（或 PI）定义。高斯分布的特征是，总数的 68% 与平均值相差在 1 个标准差范围内，如图 3 所示。

对于具有多个峰的样品，使用独特的Nicomp计算来解析多峰。较大的卡方值表示简单的高斯结果不能很好地表示原始数据。独特的Nicomp分布分析使用的一般数学过程称为拉普拉斯变换反演（“ILT”）。这种相当复杂的技术也被用于分析其他科学领域的各种问题，与光散射无关。具体的数学过程是高斯（累积量）分析中使用的最小二乘计算的更复杂的版本;它被称为非负最小二乘（“NNLS”）分析。

如图4所示的结果具有较高的Chi平方值，这意味着高斯结果与原始数据的最佳拟合，应考虑Nicomp结果。Nicomp结果如图5所示。

图4.高Chi平方结果，高斯结果

图5.Nicomp 结果

DLS 测量的主要结果是强度加权分布。结果可以转换为数量或体积分布，以便与其他技术进行比较。例如，由于显微镜产生数量加权分布，因此数量分布将显示更接近SEM结果的结果。强度分布将类似于窄对称分布的体积或数量分布。对于更广泛的分布，结果将按照从大到小的一般顺序出现相当大的差异：强度>体积>数量。样品的强度、体积和数量结果的比较如图6-8所示。

图6. 强度分布结果（光强径）

图7. 体积分布结果（体积径）

图8. 数量分布结果（数量径）

数据也可以显示为低于所选百分比的累积结果，如图9所示。

4.  ZETA电位

Nicomp系统还可用于测量样品的zeta电位。zeta电位是距离颗粒表面一小段距离的电荷，如图12所示。

图12 Zeta电位

通过向悬浮液施加电场并测量粒子运动的速度和方向来分析Zeta电位。zeta电位测量的主要结果是电泳迁移率μ然后使用以下公式计算zeta电位：

Nicomp可以通过检测频率或相移来测量粒子运动。首选方法是使用相位分析光散射（PALS）技术测量相移。

Nicomp系统的典型zeta电位结果如图13所示。

图 13. Zeta 电位结果

此测量值要关注的结果值是平均 Zeta 电位，在本例中为八次测量后的累积值。强烈建议进行多次 zeta 电位测量并使用平均值。

参考资料

[1] ISO 22412 -2008 Particle size analysis — Dynamic light scattering (DLS)