搜全站
搜展位
北京欧屹科技有限公司
关注
已关注
银牌11年
已认证
粉丝量 0
新一代全检膜厚mapping椭偏仪ME-210-T
常规椭偏仪通常只能对一点进行膜厚测量，而且单点测量也需要耗费时间，虽然也有可以做到自动扫描检测整个样品膜厚状况的手段，但是点数和时间以及精度往往无法满足工业客户的需求；
对客户的这一痛点日本Photonic lattic 通过以自研的偏振传感器为核心的新一代全检膜厚测量椭偏仪，可以做到1000点/分钟，6寸产品最快可以在3分钟内完成，不仅如此，ME-210-T针对透明基板也可测量。
最新动态
更多
新品发布-VR镜头专用应力双折射测量设备
新品
2023.07.05
光博会延期通告
厂商
2022.09.01
lasertec共聚焦显微镜的白光共聚焦功能介绍
厂商
2021.10.14
中秋节放假通知-欧屹科技
厂商
2021.09.18
推荐产品
供应产品
