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粉丝量 0
核心参数
产地类别： 进口
仪器类别： 光学图形化缺陷检测设备
主要应用： 晶圆、光罩等缺陷检测
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术， 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术，可同时探测收集激光的反射光，透射光以及共聚焦，可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为100 纳米，主要用于半导体光罩、 LCD 大型光罩的石英玻璃表面、内部、背面的缺陷检查 。将此项技术运用于第三代半导体材料的缺陷检查，将提升量产成品率将具有重要意义。
应用: SiC、GaN
半导体光罩（石英玻璃与涂层）、
石英Wafer Si Wafer
HDD Disk LT Wafer
蓝宝石衬底、
EUV光罩、
光罩防尘膜
可全面检测 表面、内部、背面的缺陷
外延缺陷
胡萝卜型缺陷
彗星缺陷
三角缺陷
边缘缺陷
衬底缺陷
微管缺陷
层错缺陷
六方空洞缺陷
企业名称
北京欧屹科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(自然人投资或控股)
信用代码
91110114697652403K
成立日期
2010-01-22
注册资本
800万元
经营范围
技术开发、技术咨询、技术服务、技术转让;计算机技术培训;基础软件服务、应用软件服务(不含医疗软件);计算机系统服务;数据处理(仅限PUE值在1.5以下);零售计算机、软件及其辅助设备、电子产品、通讯设备、五金交电、化工产品(不含危险化学品及一类易制毒化学品)、专用设备;销售文化用品、体育用品、日用品;经济贸易咨询。(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动.)
北京欧屹科技有限公司
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北京市昌平区回龙观西大街115号龙冠大厦614室
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