关注
已关注
已认证
粉丝量 0
公司简介
资质荣誉
手机扫码查看
展位推荐
PL光子晶体波片
Online双折射测量仪KAMAKIRI W
ELIONIX纳米压痕仪ENT-5
Workshop of Photonics 光纤布拉格光栅写入系统(FBG制造)FemtoFBG
特点和优势
我们的优势在于我们使用了Joule-Thomason热台作为温度控制装置,除此之外,MMR的塞贝克效应测试仪更多的优势体现在很多的科学应用上,包括:? 塞贝克测试系统具有50 nVolt的分辨率? 可测试的样品从金属到薄膜? 高的测试精度和重复性? 相对参考材料的自动运算? 结构紧凑? 宽的温度测试范围:70K 至 730K? 可测试的样品范围广:包括单晶体、薄膜、线等自动的热能测量提供如下好处:? 连续的计算机控制的试验参数可产生接近恒定大小和周期的温度梯度。? 密度的数量级增加的数据极容易获取? 一致的数据简化了程序,对于每次测量非常有用总之,这些因素使得MMR的塞贝克效应测试系统具有非常高的精度和测试重复性。
塞贝克效应测试仪技术规格
工作温度范围: 70K and 730K*腔体尺寸: 宽度:2.5 in (6.35 cm)长度:6.0 in (16.54 cm)深度:1.45 in (3.7 cm) – 电子连接端深度:1.45 in (3.7 cm) – 样品固定端工作距离: 0.47 in (12 mm)最大热测量范围: +/- 50 nVolt参考和测试通道的增益失配: < 0.1%加热模块最小功率步进: 0.1 mWatt (决定了通过样品的温度差异)加热模块最大功率步进: 900 mWatts自动读数: 最大至128参考材料: 铜镍合金-与待测样品相对温度传感器: 铂电阻温度计样品固定尺寸: 10 mm x 12 mm样品长度: 2 mm to 10 mm(取决于固定方法)控制器要求: MMR提供的可编程温度和塞贝克测量控制器过滤干燥系统要求: 标准的过滤干燥系统或者可再生过滤干燥系统气体要求: 99.998% 的高纯氮气或者氩气,至少1800 psi压力真空要求: 不高于8 mTorr
塞贝克效应
塞贝克效应是一种物理现象,即两种不同的导体材料或者半导体材料(如右图所示)之间的温度差异在接触时会产生电势差。当热量施加在两种导体或者半导体中的一个时,热电子流会从热端流向冷端。当这对材料通过电子回路连接时,直流电流(DC)就会从回路中流过。塞贝克效应产生的电压很小,通常在连接点每开氏温度只有几个微伏或几个毫伏。如果温度差足够大,一些塞贝克效应器件可以产生数毫伏甚至数千伏的电压。很多类似的器件可以串联起来增加输出电压或者并联起来增加最大输出电流。 塞如果在节点处维持大的温度差,贝克效应器件组成的大型阵列可以提供非常有用的、小规模的电源。
典型的塞贝克效应测试系统典型的变温塞贝克测量系统包括:? 高纯度高压气体(通常问氮气或者氩气)? 一套过滤干燥装置和高压气体管路? 热台? MMR提供的可编程温度控制器和塞贝克测量控制器? 带前级放大板且适合样品特性的真空腔体? 内置参考样品的样品固定台? 真空泵? 计算机
热台变温范围当系统维持在至少8mTorr的压力范围时,MMR可得到如下温度范围:? 室温? 70K 至 580K*? 80K 至 580K? 70K 至 730K*? 80K 至 730K? 室温至730K* 真空辅助的Joule-Thomson热台需要在热台的出气端增加额外的真空泵。热台不适用于超高真空和扫描电镜系统。塞贝克和温度控制器MMR独特的温度控制器MMR提供独特的可编程温度控制器专门用于我们拥有专利的低温冷却和热台系统。这个控制器可在70K至730K温度范围内精确测量温度,确保温度控制的精度和温度的稳定控制,并且易于数据采集。温度控制循环、升降温度等操作都在软件中实现,这都为固体材料表征和研究提供了非常有用的手段。
塞贝克控制器
MMR的可编程温度控制器和塞贝克测量控制器提供转钥匙的解决方案。这两个控制器可在塞贝克测试软件中一起工作,提供全部的温度控制,无论是全部样品区域还是小的温度梯度。测量和控制精度可达50nV.塞贝克真空腔和样品台塞贝克样品固定在带有前级放大电路板、样品固定台和热台的真空腔内。? 可提供几种不同的前级放大电路板分别满足阻抗从低到高的样品,从而提供宽范围的增益,优化信噪比。.? Joule-Thomson热台温度范围可满足全部设备的真空下的温度70-730K。? 真空腔体已做过优化处理,排除了大气环境下的不良影响。? 样品固定台包含了两个热电偶,一个用于铜和标准参考材料之间接触点的测量,另外一个热电偶用于铜和待测材料之间接触点的测量。该系统使用高级的双参考测量技术从而保证高精度和高重复性。
企业名称
北京欧屹科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(自然人投资或控股)
信用代码
91110114697652403K
成立日期
2010-01-22
注册资本
800万元
经营范围
技术开发、技术咨询、技术服务、技术转让;计算机技术培训;基础软件服务、应用软件服务(不含医疗软件);计算机系统服务;数据处理(仅限PUE值在1.5以下);零售计算机、软件及其辅助设备、电子产品、通讯设备、五金交电、化工产品(不含危险化学品及一类易制毒化学品)、专用设备;销售文化用品、体育用品、日用品;经济贸易咨询。(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动.)
公司地址
北京市昌平区回龙观西大街115号龙冠大厦614室
客服电话
PHL应力双折射测试仪
PHL双折射应力仪WPA-Micro
PHL显微型应力双折射仪
应力双折射测试仪器WPA-200,WPA-200-L
PHL应力双折射仪 PA-200
PHL偏振相机 PI-110
PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101
Adamand Namiki 光干涉内周面测量仪 NMH-01
Lasertec激光白光混合共聚焦显微镜系统HYBRIO
蓝宝石专用双折射测量仪
球坑测厚仪
Photonic Lattice显微应力双折射分析仪 PA-Micro
Micro Support微区取样器AXIS Pro
ARMS SYSTEM无掩模光刻机/直写光刻机UTA-IA
Photonic Lattice晶圆应力双折射缺陷检测设备PA-300-XL
PHL应力双折射仪 WPA-200
PA系列双折射测量仪
PHL残余应力测量仪超大幅面WPA
PHL相位差测量仪WPA-200-MT
美国普林斯顿Princeton Instruments短波红外活体成像探测器NIRvanaa
美国普林斯顿Princeton Instruments 的HRS-300光谱仪
Workshop of Photonics飞秒激光微纳加工系统Femto LAB
PHL残余应力测量仪
PHL 残余应力测量仪
PHL内应力测量仪 PA-300-XL
手机版:
美国MMR变温塞贝克效应测试仪
沟通底价
提交后,商家将派代表为您专人服务
获取验证码
{{maxedution}}s后重新发送
公司名称: 北京欧屹科技有限公司
公司地址: 北京市昌平区回龙观西大街115号龙冠大厦614室 联系人: 王先生 邮编: 102208
激光共聚焦显微镜 椭偏仪 纳米压痕仪、划痕仪 无掩模光刻机/直写光刻机 光学薄膜测量设备 其他晶圆缺陷检测设备
欧屹科技公司 欧屹科技公司 欧屹
仪器信息网APP
展位手机站
产品介绍 工商信息