介电常数及介质损耗测试仪产品介绍

介电常数及介质损耗测试仪产品介绍

介电常数及介质损耗测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到160MHz。
双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路醉优化 —使测试回路 残余电感减至醉低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
符合标准：
ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；
GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；
GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；
GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；
介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、主机、数据采集和tanδ自动测量控件（装入的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的醉佳解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。主机具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。
介电常数/介质损耗测试系统系统组成：

主机

满足标准：

GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在
内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

平板电容极片Φ50mm/Φ38mm
可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
间距可调范围≥15mm
频率指示误差3×10-5±1个字
夹具插头间距25mm±0.01mm
主电容调节范围30-500/18-220pF
测微杆分辨率0.001mm
主调电容误差<1%或1pF
夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)
Q测试范围2～1023

测试注意事项

a．本仪器应水平安放；

b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；

c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；

d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；

e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；

f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

试验步骤

1 试样的制备

 试样应从固体材料上截取，为了满足要求，应按相关的标准方法的要求来制备。

 应精确地测量厚度，使偏差在士(0. 2%士。.005 mm)以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。

2 条件处理

 条件处理应按相关规范规定进行。

3 测量

 电气测量按本标准或所使用的仪器(电桥)制造商推荐的标准及相应的方法进行。

 在 1 MHz或更高频率下，必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时，可采用同轴接线系统(见图 1所示)，当用变电抗法测量时，应提供一个固定微调电容器。

电极系统

 1. 试样上不加电极

 表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。

 平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表 3给出。

 下面两种型式的电极装置特别合适

1.1 空气填充测微计电极

 当试样插人和不插人时，电容都能调节到同一个值 ，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极.

1.2 流体排出法

 在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去

 试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。

加到试样上的电极

2. 电极可选用 5.1.3中任意一种。如果不用保护环。而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出.

 对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图 1所示的电极系统也要求试样厚度均匀

试验报告

• 试验报告中应给出下列相关内容:

• 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况);

• 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型;

• 试样条件处理的方法和处理时间;

• 施加的电压;

• 介质损耗因数 tans(平均值);

• 测量仪器;

• 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度;

• 施加的频率;

• 相对电容率ε(平均值);

• 试验 日期 ;

特点：

1． 优化的测试电路设计使残值更小

2． 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术

3． LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换

4． 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度

S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

固体：材料测量直径 Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm  

液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm