介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
主要技术特性 :
Q 值测量范围 |
2 ~ 1023 |
量程分档 |
30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档 |
固有误差 |
≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz )
≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz) |
工作误差 |
≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz )
≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz) |
电感测量范围 |
4.5nH ~ 140mH |
电容直接测量范围 |
1 ~ 200pF |
主电容调节范围 |
18 ~ 220pF |
主电容调节准确度 |
100pF 以下 ± 1pF
100pF 以上 ± 1 % |
信号源频率覆盖范围 |
100kHz ~ 160MHz |
频率分段 ( 虚拟 ) |
100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,
10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz |
频率指示误差 |
3 × 10 -5 ± 1 个字 |
搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用
概述
BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套,可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数(损耗角正切值)。
BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品,它采用了数显微测量装置,因而读数方便,数据精确。
测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。
平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器,通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化,测得绝缘材料的损耗角正切值。
从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。
BD916介质损耗测试装置技术特性 :
平板电容器 |
极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选 |
极片间距可调范围 |
≥15mm |
夹具插头间距 |
25mm±0.01mm |
夹具损耗正切值 |
≤4×10-4 (1MHz) |
测微杆分辨率 |
0.001mm |
电感:
线圈号 |
测试频率 |
Q值 |
分布电容p |
电感值 |
9 |
100KHz |
98 |
9.4 |
25mH |
8 |
400KHz |
138 |
11.4 |
4.87mH |
7 |
400KHz |
202 |
16 |
0.99mH |
6 |
1MHz |
196 |
13 |
252μH |
5 |
2MHz |
198 |
8.7 |
49.8μH |
4 |
4.5MHz |
231 |
7 |
10μH |
3 |
12MHz |
193 |
6.9 |
2.49μH |
2 |
12MHz |
229 |
6.4 |
0.508μH |
1 |
25MHz,50MHz |
233,211 |
0.9 |
0.125μH |
介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪作为最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内最高的160MHz。
GDAT高频 Q 表采用了多项技术:
A.双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
B.双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
C.双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
D.自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
E.全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
F.DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路 残余电感减至最低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问!
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