激光二极管/LED LIV(光强-电流-电压)测试系统

激光二极管/LED LIV(光强-电流-电压)测试系统

姓名：田工(Allen)

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该款激光二极管/LED LIV(光强-电流-电压)测试系统可以测试无论是封装形式还是裸芯片。这些仪器可在短的时间内完成完整的 LIV 测量，实现高效生产

激光二极管/LED LIV(光强-电流-电压)测试系统产品特点

该款产品采用数字可编程模拟终端级来实现灵活和准确的电流控制。产品提供多种电流匹配，从 250mA，到1200A。可定制支持其他范围电流需求！

产品提供脉冲系统，脉冲持续时间为 150ns 至 2000μs。快速上升时间版本拥有 50ns 的上升和下降时间（在 60A 时）——实现基本无过载。

这种独特的功能允许在芯片级或条级对高功率二极管激光器进行准确测试，而不会对被测设备产生过度的热负载。

系统也提供CW/QCW 测试，具有大量包括老化测试在内的各种功能测试

系统都通过 USB 端口进行控制以进行自动测量。从控制计算机上传参数集。在启动命令之后， 然后完全自主地执行完整的测量序列。

激光二极管/LED LIV(光强-电流-电压)测试系统应用领域

应用包括在子安装或包装之前和之后的激光二极管表征、进货检查和原始设备制造商。快速数据采集提供了高生产效率。系统通过定制带状线或接触卡配置服务支持该产品。

激光二极管/LED LIV(光强-电流-电压)测试系统工作原理

系统都通过 USB 端口进行控制以进行自动测量。从控制计算机上传参数集。在启动命令之后，LIV 然后完全自主地执行完整的测量序列。快速数据采集提供了高测量速度。

仅在脉冲模式下测量的产品型号：

Pulsed LIV mode

该模式冲（或步长）宽度和脉冲间隔以恒定电流运行驱动器。在这种模式下测量每个脉冲的激光功率。示意图如下： 

Pulsed burst mode

此模式可用于检查设备上的热接触，也可以在一定时间内产生光以进行其他测量，例如smile、近场/远场模式或光谱，产品通过定制带状线或接触卡配置服务支持该产品。

详细资料请点击下载

软脉冲测试：