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高效率荧光寿命成像系统
姓名：刘工(Bridge)
电话：（微信同号）
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产品简介
高效率荧光寿命成像系统是基于荧光样品中不同区域的荧光的指数衰减速率的差异。 由τ决定荧光寿命成像的每个像素的强度，这使研究 人员可以查看具有不同荧光衰减率的材料之间的对比度，还可以产生显示其他衰减路径变化的图像。可以通过使用脉冲源在时域中确定荧光寿命。 当荧光物质被超短脉冲激发时，时间分辨的荧光将呈指数衰减。 时间相关单光子计数（tcspc）通常被用作荧光寿命的测量方法，因为它补偿了在源强度和单光子的脉冲幅度的变化。 更具体地说，TCSPC由单个光子雪崩光电二极管 （SPAD）记录相对于激发激光脉冲的单个光子的寿命。 重复记录多个激光脉冲，并在记录了足够多的事件后，研究人员能够建立所有这些记录的时间点上事件数量的直方图。 然后，可以将该直方图拟合到的指数寿命衰减函数的指数函数，并且可以相应地提取寿命参数。 Xper-FLIM配备了单光子雪崩二极管检测系统，可以提供低成本检测通道选项，从而为FLIM研究人员实现超 快速分析。 Xper-FLIM也可用于倒置显微镜或正置显微镜，满足其他应用需求。
应用领域
成像原理
测试案例：
规格参数：
| 显微镜 | - -反射LED照明器，用于明场 - -带有右手控制的机械X-Y载物台 - -自动控制的Z轴位置 - -包括主机架，平台板，控制箱，接口电缆，电源线 - -40倍物镜（其他选项：10倍，20倍，50倍和100倍） - -正置或倒置显微镜 |
| 扫描模块 | - -波长范围：400～1000 nm - -激光扫描模式：压电扫描 - -扫描范围：200μm×200μm（使用40倍物镜时） - -包括用于光学图像采集的15 MP摄像头（使用40X时，FOV：220μm×150μm） - -包含一个控制器（USB1.1） - -扫描速度：> 100行/秒 |
| 光源 | 皮秒脉冲二极管激光器和驱动器 -波长：390～700 nm -自由空间/光纤耦合选择（可选） |
| 滤波片 | 选择与激光波长相对应的滤光片 - -波长范围：390～700 nm - -可在滤光镜盒中互换用于相应的激光器 |
| 机身 | - -1个插槽，用于连接激光中性密度（ND）滤镜或偏振镜 - -2个用于连接偏振片或波片的插槽 - -1个插槽，用于连接可互换的滤波片套件 - -具有三个激光器空位。 - -可安装光纤耦合端口。 - -提供稳定的光束对准平台 |
| 探测器 | 光子检测效率 - 24 % at 400 nm - 49 % at 550 nm - 37 % at 650 nm - 有效区域直径：50μm - 暗计数：<250，<100，<50，<25 cps（取 决于探测器的等级） -NIM定时输出：50 ps - 脉冲后可能性：<3％ |
| 光源驱动 | -重复频率：31.25 kHz～80 MHz -触发：-1至+1 V电平（可调） -频率范围：10 Hz～80 MHz -同步输出：幅度<0.8 mV到50欧姆 |
| 计数器 | 计时电路 - -检测通道：1或2 - -时间范围：25 ps - -触发：0～-1200 mV - -计数率：40 MHz - -标记：TTL x4 |
| 软件 | - -荧光寿命采集和成像 - -频谱数据导出格式：.txt，.csv - -2D映射数据导出格式：.spm，.csv |
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上海昊量光电设备有限公司
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