核心参数
组件类别: 光学元件
所属类别: ? 光学/激光测量设备 ? 偏振态测量仪
所属品牌:韩国Nanobase公司
产品简介
Xper-IP激光干涉膜厚测量仪
Xper-IP是基于Nanobase公司特有的光谱干涉技术的一款膜厚测量仪,是一种非接触式、无损的、精确且快速的光学薄膜厚度测量设备。Xper-IP可用于测量各种材料(如各种薄膜,镀膜,显示面板等)的绝对厚度。
薄膜测厚仪,激光干涉仪,膜厚测量仪,激光干涉薄膜测量系统
韩国Nanobase公司是一家专注于激光和光谱测量领域的高科技公司,旗下有多种产品,包括拉曼光谱成像系统,OCT光学相干断层扫描系统,可调谐激光器和激光干涉薄厚测量仪。
Xper-IP正是基于Nanobase特有的光谱干涉技术的一款膜厚测量仪,是一种非接触式、无损的、精确且快速的光学薄膜厚度测量设备。Xper-IP可用于测量各种材料(如各种薄膜,镀膜,显示面板等)的绝对厚度,产品具有以下特点:
绝对精度 ±0.2 %
重复准度 ±0.003 %
超宽测量范围 10 mm to 1 mm
人性化软件,易于使用
性价比高
同时测量多层膜厚
结构坚固,适用于实验室和工业环境
参数
型号 | Xper-ITP(激光干涉测厚) | Xper-ISP(激光干涉测表面形貌) |
测量范围 | 100-1000微米,200-2000微米,(或者定制波长范围,与光谱仪分辨率成反比) | |
准确度 | ±0.2 % | |
重复性 | 单点:0.01% full range(<100nm) 平均:0.003% full range(<30nm) | |
速度 | 激光:标准30pps,(最大100,000pps) | |
光源 | 激光:SLD(840nm) |
应用领域
半导体,太阳能,SiC Coat, Si Coat, Polished Si, Optical disk
平板显示,Cell gap, Glass thickness, DLC, Highfunction film
光学薄膜,医用聚合物材料等,AR film, PET, Coating layer, Coating film, Evaporation film, Functionality film, Acrylic resin, Video head, etc.
测量原理
原理图
示例
相关产品
惊爆价!50万RMB!高速大面积共聚焦拉曼成像系统 高分辨率激光干涉仪 高性能 便携式拉曼光谱仪 全功能 高速大面积扫描 共聚焦拉曼成像系统
企业名称
上海昊量光电设备有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(自然人投资或控股)
信用代码
913101176727298067
成立日期
2008-04-03
注册资本
人民币100.0000万元整
经营范围
许可项目:货物进出口:技术进出口.(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动,具体经营项目以相关部门批准文件或许可证件为准)一般项目:光电设备及元器件、光纤光缆、光电传感器、仪器设备、电子产品、通讯器材研发、生产、销售;工业自动化设备及配件、机械设育、汽车零配件、化工产品(除危险化学品、监控化学品、烟花爆竹、民用爆炸物品、易制毒化学品)、建筑装饰材料、服装、纺织品及眼材料、计算机软硬件及辅助设备销售;软件开发;技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广.(除依法须经批准的项目外,凭营业执照依法自主开展经营活动)
上海昊量光电设备有限公司
公司地址
上海市徐汇区虹梅路2007号远中产业园三期6号楼3楼
客服电话