飞纳台式扫描电镜不仅有用杰出的硬件和精巧的设计,采用高亮度、强信号、寿命为 1500h 的 CeB6 灯丝,集成彩色光学显微镜用于彩色导航,配合原装全自动马达样品台使用,点击哪里,看到哪里,设计紧凑,完全防震;更有强大的软件拓展功能,飞纳电镜颗粒统计分析测量系统,飞纳电镜纤维统计分析测量系统,飞纳电镜孔径统计分析测量系统,飞纳电镜 3D 粗糙度重建,高倍超大视野全景拼图,远程联网检测等。为交流国内外颗粒学研究与技术的最新进展,每两年一届的“中国颗粒学会学术年会暨海峡两岸颗粒技术研讨会”于 2016 年 8 月 12-14 日(8 月 12 日报到)在四川省成都市举办,会期 2 天。本届会议由中国颗粒学会主办,中国颗粒学会超微颗粒专委会协办。飞纳台式扫描电镜赞助并出席中国颗粒学会第九届学术年会。
飞纳台式扫描电镜颗粒统计分析测量系统自动识别统计颗粒
客户现场参观试用飞纳台式扫描电镜
飞纳台式扫描电镜放大倍数 13 万倍,分辨率突破 10nm,使用的 CeB6 灯丝可以显著提升扫描电镜的成像质量,优异的硬件为飞纳电镜的软件开发打下了坚实的基础。飞纳电镜颗粒测量系统(Phenom ParticleMetric)是基于飞纳台式扫描电镜的颗粒分析系统,用于实现颗粒可视化分析,由飞纳电镜的制造商荷兰 Phenom-World 公司历经三年研发,于 2013 年 11 月 1 日在荷兰发布,目前仍不断更新升级,飞纳电镜对所用用户所使用的软件升级都是免费的。
飞纳电镜颗粒系统适用的领域有化妆品,食品,化工,制药,陶瓷等行业;颗粒状状添加剂;环境颗粒;过滤、筛网等。可对 100nm ~ 0.1mm 尺寸范围内的颗粒进行分析,颗粒探测速度高达 1000 个/分钟,测量颗粒的大小,形状,数量等属性。给出颗粒众多的参数值,例如面积,当量直径,外接圆直径,比表面积,周长,宽高比,表面积,充实度,伸长率,灰度等级,长轴长度和短轴长度,凸壳体,重心,像素点数,凸状物。并根据实际需要生散点统计图和柱状统计图。
中国颗粒学会第九届学术年会代表证
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