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为什么扫描电镜是纳米颗粒的重要表征技术

2017-06-11 17:54

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随着微观颗粒应用的持续增加,更加需要精确控制其性能。我们将解释为什么需要精确的监测和表征颗粒,以及说明扫描电镜是您的重要表征方法,特别是它的广泛用途和高分辨率。 “颗粒 (particle)”是一个很常见的术语,它表示材料中任何不连续的子部分。它的范围可以从亚原子尺度(大小10-15 m)到原子(0.3 Å)和分子(nm-μm)的微观颗粒,直到可以包括灰尘、油污、皮肤(mm-cm)的宏观颗粒,甚至银河系里的行星(地球约为106m)。因此,对“颗粒”精确定义是相当困难的任务。通常理解的粒子在尺寸和形状方面可能会有很大变化。 现在,我们专注上述的颗粒种类之一,微观颗粒。这一类颗粒是非常有趣的,因为它们有很多实际应用,例如陶瓷、食品工业、电子产品、聚合物和塑料、化妆品和制药领域。事实已经证明,这类粒子的尺寸和形状会影响对应的材料性能。原理上,大多数材料是依赖尺寸的;纳米级材料的物理性质可能与晶粒尺寸较大的相同材料的物理性质不同。这由以下几个因素决定。首先,当涉及到纳米维度时,经典力学不再适用,应该被量子力学替代。此外,比表面积大大增加,潜在地影响材料的某些特性(图1)。
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X 射线检测技术不受检测材料种类的影响,对材料中大部分缺陷,如疏松、夹杂、脱粘等均有较高的检测灵敏度。但传统工业 CT 的空间分辨率受到射线焦点、探测器和重构矩阵分辨率的限制,分辨率有限,无法分辨直径为数微米的特征。但近些年随着科技进步,逐渐发展起来的显微 CT 则可以弥补这一缺陷。

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