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Phenom飞纳台式扫描电子显微镜产品手册

2012-08-01 16:04

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资料摘要:

Phenom™ G2 Pure 飞纳台式扫描电镜(标准版) Phenom G2 Pure 放大倍数17000倍,分辨率优于30nm,30秒快速得到表面细节丰富的优质显微照片。是一款经济型的台式扫描电镜,可用于测量亚微米尺寸的样品。 Phenom G2 Pure适用于传统大电镜待测样品的快速筛选,也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。可升级为Phenom G2 Pro 专业版。 Phenom™ G2 Pro 飞纳台式扫描电镜(专业版) Phenom G2 Pro 放大倍数45000倍,分辨率优于25nm,30秒快速得到表面细节丰富的优质显微像。是一款功能齐全的高分辨率台式扫描电镜,可用于测量亚微米或纳米尺寸的样品。Phenom G2 Pro可选配丰富的拓展功能选件Phenom pro suite,如三维粗糙度重建、纤维直径和孔洞面积(孔隙率)统计分布、高倍拼图、远程控制操作等。 Phenom™ ProX 飞纳台式扫描电镜(能谱版) Phenom ProX 能谱版台式电镜集成像与元素分析于一体,放大倍数45000倍,分辨率优于20nm,30秒快速表面细节丰富的优质显微像;可精确定性定量探测5~95号元素的分布。背散射电子图像用不同的灰度呈现出不同元素,phenom ProX 配备的SDD X射线探头,可以准确的定位元素和含量,能谱无外接部件,无需液氮冷却。
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显微 CT 技术作为一种强大的无损检测工具,已经在高分子材料的研究和开发中展现了广泛的应用前景。无论是孔隙分析、纤维结构表征,还是裂纹检测与热老化监测,显微 CT 都能够提供深入的微观结构信息,帮助研究人员深入理解材料的微观结构和性能之间的关系,促进企业优化工艺、提升产品性能。在未来,显微 CT 将继续推动高分子材料领域的创新发展,为更多行业提供高性能的材料解决方案。

X 射线检测技术不受检测材料种类的影响,对材料中大部分缺陷,如疏松、夹杂、脱粘等均有较高的检测灵敏度。但传统工业 CT 的空间分辨率受到射线焦点、探测器和重构矩阵分辨率的限制,分辨率有限,无法分辨直径为数微米的特征。但近些年随着科技进步,逐渐发展起来的显微 CT 则可以弥补这一缺陷。

显微 CT 技术是一项通过利用 X 射线对微观样品进行高分辨率成像的先进技术,是研究和解决地质学问题的重要工具,在地质行业发挥着不可或缺的作用。本文将介绍显微 CT 技术的基本原理、发展历程以及其在地质行业的特殊应用。

显微 CT 技术通过高精度的 X 射线无损检测技术,能够在不破坏文物的前提下,清晰、准确、直观地展示文物内部的结构组成以及可能存在的缺陷和损伤情况。该技术为考古学家和文物保护专家提供了一种全新的研究手段,使得对文物的分析和保护工作更加科学和精确。

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