Epsilon 3XLE 一种能量色散 X 射线荧光光谱仪,可对从 C 到 Am 的元素(浓度从 ppm 到 100%)进行分析。将 Omnian 用于半定量分析,当需要快速分析鉴定时,则使用 FingerPrint 来进行材料测试,或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。用户还可使用Enhanced Data Security以满足 FDA 21 CFR Part 11 等法规要求。
Epsilon 3XLE
Epsilon 3XLE 台式 X 射线荧光光谱仪可以处理类型广泛的样品,可进行从 C 到 Am 的元素分析。可以测量的样品类型包括:固体,压缩粉末,疏松粉末,液体,熔片,浆类样品,颗粒,滤光片,薄膜和镀层。在完全安全的条件下测量未经制备的样品、体积较大或形状不规则的样品,避免高能 X 射线工作在开放状态。具有非破坏性的定量分析功能,广泛的分析含量范围(ppm-%),重量从几毫克到更大的块状样品不等。这使得 Epsilon 3X 台式 X 射线荧光光谱仪成为一款经济实惠,高度灵活的分析工具,适用于各种应用场合。Epsilon 3X 可应用于各种各样的行业,包括:水泥生产,采矿,选矿,炼铁,炼钢和有色金属,石油石化,聚合物及相关行业,玻璃生产,取证,医药,保健品,环保,食品和化妆品等。