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安洲科技参加2020年新材料与低可探测技术及应用学术研讨会
2020年11月11～13日，由中国光学工程学会主办，中南大学、复杂航空系统仿真重点实验室、北京安洲科技有限公司参与联办的“2020新材料与低可探测技术及应用学术研讨会”在湖南长沙成功举办。
图为会议现场
会议旨在分析国内低可探测前沿技术发展态势，研讨当前技术发展的问题及关键技术发展方向，提高低可探测防护与技术水平。来自地方政府、各军兵种、军工科研院所、高校、企业等各领域专业人员200余人莅临现场参与研讨，经过三天时间的深入交流，增进了行业内部技术信息流动，促进了低可探测技术领域“产-学-研-用”一体化良性发展。
安洲科技应邀参加了本次盛会,同时借此机会向大家展示了美国SOC ET10、ET100红外发射率测量仪、410-Solar太阳光谱发射率测量仪等一系列国际先进科研仪器。
# ET100、ET10红外发射率/反射率
410-Solar 便携式反射率测量仪
410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。
SOC-200 是一款高精度科研级BRDF测量系统，可以从可见到中红外波谱范围内全自动测量样品的BRDF，实现光学表面、油漆、涂层、液体和颗粒等双向反射分布函数（BRDF）制图。
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