精品G-500A小立式扫描电镜

轻元素定量分析--扫描电镜/能谱(SEM/EDS)选项

何为轻元素？当谈到定量分析时，为何轻元素处理不同于其他元素？ 因为原子序数降低，离化原子难度增加，离化的原子产生的X-ray可能性减少（俄歇电子几率增加），这导致轻元素产生的信号微弱。轻元素产生的低能X-ray相对其他元素高能X射线，非常容易被样品本身吸收，因此到达探测器的轻元素X-ray只能来自接近样品表面，

使用EDS谱图像数据的自动多元统计相分析做铜复合物快速评价

扫描电镜能谱仪NS7,快速采集谱图像，通过使用多元统计分析软件COMPASS,我们将容易和快速的确定来自铜铅冶炼初步处理过程中的每个明显成分的形态、化学成分和分布，引导精炼过程的调整，节约冶炼过程费用

驰奔G系列小型立式扫描电镜优势特色

驰奔电镜之GENESIS-500系列小型立式扫描电镜，是北京驰奔仪器有限公司创新概念产品，韩国精品电镜制造商EMCRAFTS制造，兼具大型经典扫描电镜和台式扫描电镜优点。经典高品质GENESIS-500系列扫描电镜，是驰奔仪器主推产品。

驰奔小型立式扫描电镜样本

驰奔电镜之G列小型立式扫描电镜，经典结构设计，创新概念电镜。具有五轴优中心样品台，可自动手动控制，全数字化电子光学控制系统，操作简便。

扫描电镜背散射电子(BSE)应用、成像探测器类型及特点

北京驰奔仪器有限公司，是专业扫描电镜SEM系统销售及服务商，是进口Genesis系列小型立式扫描电镜中国独家代理。在北京设立小型立式扫描电镜演示及服务中心，为客户提供周到技术支持和服务 背散射电子成像在扫描电镜应用中非常普遍。入射电子和样品中一个或多个原子核碰撞，能量损失很小改变入射电子运动方向（弹性散射）并从样品表面出射的入射电子称为背散射电子。背散射电子信号携带样品平均原子序数信息、样品表面形貌信息、晶体结构取向信息， 背散射电子成像的典型特色是提供样品表面或样品内部不同原子序数部位的亮暗对比反差。

扫描电镜半导体固体背散射电子探测器形貌（TOPO）模式的假象

北京驰奔仪器有限公司，是专业扫描电镜SEM系统销售及服务商，是进口Genesis系列小型立式扫描电镜中国独家代理。在北京设立小型立式扫描电镜演示及服务中心，为客户提供周到技术支持和服务 半导体探测器晶体常常是环形对称，信号及探测器系统分析表明，一体的探测晶体倾向于消除形貌反差，增强成分Z反差,这也是背散射探测器最大的使用价值。最早的研究者经过理论分析，认为将探测器晶体进行分割然后对称的探测信号进行代数运算，可消除成分Z反差，突出形貌反差, 各种实验研究表明，确实如此,但通过信号重构样品形貌也存在一些人工假象，需要特别注意。