扫描电镜半导体固体背散射电子探测器形貌（TOPO）模式的假象

轻元素定量分析--扫描电镜/能谱(SEM/EDS)选项

何为轻元素？当谈到定量分析时，为何轻元素处理不同于其他元素？ 因为原子序数降低，离化原子难度增加，离化的原子产生的X-ray可能性减少（俄歇电子几率增加），这导致轻元素产生的信号微弱。轻元素产生的低能X-ray相对其他元素高能X射线，非常容易被样品本身吸收，因此到达探测器的轻元素X-ray只能来自接近样品表面，

扫描电镜能谱(SEM/EDS)定量元素面分布

在许多应用领域，对于X-ray成像，现代EDS能谱仪提供了一个高效益和可替代EPMA电子探针WDS波谱仪的方案，简单的培训即可获得结果，数据质量和WDS很接近，一样有效。操作更简单，购置成本低，是地质、材料科学或失效分析实验室完美补充

使用EDS谱图像数据的自动多元统计相分析做铜复合物快速评价

扫描电镜能谱仪NS7,快速采集谱图像，通过使用多元统计分析软件COMPASS,我们将容易和快速的确定来自铜铅冶炼初步处理过程中的每个明显成分的形态、化学成分和分布，引导精炼过程的调整，节约冶炼过程费用

能谱探测器能量分辨率在扫描电镜/能谱(SEM/EDS)采集分析顶级数据中的作用

能量分辨率，在获得顶级的EDS数据过程中，只代表许多因素之一。 超薄窗或无窗技术及消除SDD晶体和窗口间任何惰性气体,对低能X射线检测是关键。 对面分布应用，在几十万CPS输出计数率时，快速的电器和低电容SDD，是能量分辨率降低最小化的关键。 尽管一个极端的EDS分辨率条件下，会生成一个完美的谱，但强大的后处理算法提供更强大的杠杆，生成高质量，高精度EDS元素面分布。 尽管EDS探测器在过去15年中已经大大地发展了，但现在能量分辨率性能已接近物理极限。在EDS发展中其他方面的进展，占据改善EDS数据采集和分析的主要方面。