ORTEC N型高纯锗（HPGe）γ谱仪

GAMMA-X N型同轴HPGe探测器适用于能量范围为~3 keV及以上的高性能伽马能谱测量。

GAMMA-X（GMX）探测器是一款同轴高纯锗（HPGe）探测器，具有超薄入射窗口。大多数同轴探测器具有500至1000微米厚的入射窗口，但该探测器的入射窗口是一个0.3微米厚的离子注入接触面，将较低的有用能量范围扩展至约3 keV。离子注入将产生完全稳定的接触面，其不会随着重复回温循环而恶化。此外，N型HPGe探测器已经证明能够抵抗快中子损伤。

GAMMA-X系列特征：

• GAMMA-X效率标准产品可达100％，还可应要求提高。

• 谱测量从3 keV向上。

• 超薄硼离子注入辐射窗口，是康普顿抑制系统的理想选择。

• 抗中子损伤；用户自修复中子损伤选件。

• 出色的能量分辨率和峰对称性。

• SMART偏压选件。

• 恶劣环境（-HE）选件。

• 铍窗口配有保护罩；铝或碳纤维窗口选件可免费提供。

• 低本底碳纤维端盖选件。

• 外加前置放大器选件适用于超高计数率应用。

• 巨大的配置灵活性，PopTop、Streamline和机械冷却选项。

可选附件：

集成低温冷却系统选件（-ICS-E）
集成低温冷却系统（ICS）低温恒温器配备有低温冷却器，不受回温循环的影响。与使用标准型低温恒温器探测器的典型三天损失不同，ICS可以立即重新冷却，最大限度地减少因临时回温而损失的任何时间。

SMART-1选件 (-SMN)
SMART-1选件用于监控和报告重要的系统功能，还可保存验证码并在稍后报告该验证码。它包括高压，因此所有仪器都不需要外部高压电源。SMART-1采用坚固的ABS模塑塑料外壳，并通过模塑密封电缆牢牢地固定在探测器端盖上。这可避免探测器因水分泄漏到高压连接器中而受到严重损坏。SMART-1可以放置在任何方便使用的位置，不会干扰屏蔽罩或其他安装硬件。

超高计数率前置放大器选件（-PL）
超高计数率前置放大器（晶体管复位前置放大器）可在1 MeV下处理高达1,000,000个计数/秒的输入计数率，并具有无反馈电阻的额外优势。

恶劣环境选件（-HE）
恶劣环境选件是一个坚固的碳纤维端盖，配有密封的电子设备外壳，并带有可更换的干燥剂包，用以确保电子设备保持100％干燥并指示何时需要更换干燥剂包。直径为76 mm或更大PopTop封装设计中的GMX系列探测器可配备此选件。

远程前置放大器选件（-HJ）
此选件让所有前置放大器和高压接头位于屏蔽之外，并将前置放大器和高压滤波器从Ge晶体的“视线”移开。对于低本底应用，此选件消除了可能增加屏蔽罩内部本底的任何可能性，来源于前置放大器或高压滤波器组件。

低本底碳纤维端盖选件（-RB、-LB-C和-XLB-C）
低本底碳纤维端盖与Al、Mg和Cu一样坚固，产生的本底少，不腐蚀，并且可以检测低于10 keV的能量。这种较低的本底材料可在特定计数时间内降低最小可探测活度（MDA），这为在低本底计数应用中增加样品通量提供了另一种方法。碳纤维的低Z值可提供低能量窗口，而不会产生在大多数合金中发现的额外本底。

铝窗选件（-A）
如果感兴趣的能量超过20 keV，则可以选择全铝端盖。

碳纤维窗选件（-CW）
碳纤维窗口可用于大于约8 keV的能量。虽然这个窗口不能通过所有较低的能量，但碳纤维的Z比Al低，并且不存在任何与Be相关的危险。