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香港电子器材有限公司

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大功率温度控制系统

品牌： Mechanical Devices

型号： Max TC

产地：美国

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台式温度控制系统

品牌： Mechanical Devices

型号： Flex TC

产地：美国

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SIMS及APT系列

品牌： Cameca

型号： IMS 7f-Auto

产地：法国

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X射线检测设备

品牌： YXLON

型号： FF35 CT + Zoomscan (变焦扫描）

产地：德国

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自动光学检测 (AOI) 系统

品牌： MVP

型号： Spectra Series II

产地：美国

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PVA TEPLA -晶圆内应力测量系统

品牌： PVA TePla

型号： PVA TePla - Wafer Internal Stress Mapping System

产地：德国

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ADVANTEST - 高分辨率脉冲时域反射计（TDR）/投射计(TDT)

品牌： --

型号： Advantest - TDR / TDT

产地：日本

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FSM - 应力及厚度在线量测系统

品牌： FSM

型号： FSM - INLINE & DIMENSIONAL METROLOGY

产地：美国

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SEMICS - 自动晶圆探针台

品牌： --

型号： OPUS

产地：韩国

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ULTRAT - 晶圆、基板、光罩清洗机

品牌： --

型号： UltraT - Manual/Automated/Wet Bench/Batch

产地：韩国

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DAIN HITECH -自动晶圆贴标机

品牌： --

型号： DAIN HITECH - DH-OBCP5000

产地：韩国

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KAYAKU ADVANCED MATERIALS -光刻胶

品牌： NIPPON FILCON

型号： Kayaku Advanced Materials - SU-8 2000 series Photoresists

产地：日本

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KAYAKU - 光刻干膜

品牌： NIPPON FILCON

型号： NIPPON KAYAKU - KPM-500 DFR

产地：日本

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ISHII HYOKI -喷墨涂布系统

品牌： --

型号： Ishii Hyoki - IP300

产地：日本

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CHROMA -高精度光学、光电滤光片

品牌： --

型号： Chroma - Sputter-coated optical filters

产地：美国

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ABET TECHNOLOGIES - QE、IPCE 测试系统

品牌： ABET

型号： QE Measurement Systems

产地：美国

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GENTEC-EO - 激光光束诊断器

品牌： Gentec-EO

型号： Gentec-Eo - Laser beam diagnostics

产地：加拿大

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GENTEC-EO - 激光功率器 / 能量检测器

品牌： Gentec-EO

型号： Gentec-Eo - Laser power meters

产地：加拿大

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BRUKER - X 射线荧光光谱分析仪（XRF）

品牌：布鲁克

型号： Bruker - X-ray Fluorescence (XRF)

产地：美国

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BRUKER - X 射线分析仪(XRD)

品牌：布鲁克

型号： Bruker - X-ray DIFFRACTION (XRD)

产地：美国

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Bruker -超高分辨率显微镜

品牌：布鲁克

型号： Bruker - Vutara 350

产地：美国

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Bruker - 激光共聚焦显微镜

品牌：布鲁克

型号： Bruker - Opterra II

产地：美国

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BRUKER -活体多光子显微镜

品牌：布鲁克

型号： Bruker - Ultra High Resolution Microscope

产地：美国

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DENTON VACUUM - 蒸 / 溅镀系統

品牌： DENTON

型号： Sputtering / Evaporation Systems

产地：美国

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Advantest-太赫兹光谱及成像系统

品牌：爱德万

型号： Advantest - THz Spectrum/Imaging System

产地：日本

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LTB-超高、极高分辨率中阶梯光谱仪

品牌： LTB

型号： LTB

产地：德国

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