X射线分析显微镜（XGT-5200）

概要

       台式XGT - 5200系统搭载独特的X射线导管，允许高空间分辨率的X射线荧光分析--从1.2毫米到10微米。无需任何样品制备或真空--样品仅需要放置在样品室中，即可在正常大气压力下分析。完全整合的软件可控制样品的移动，获取数据分析（包括定性和定量分析，并生成成分组成图像）。将样品放在样品祥中后，只需几秒钟，借助直观的“point and click”选择分析位置，即开始抓取数据。

       样品观察采用同轴几何呈象，可消除视差，您可以绝对相信，看到的样品即是测量的位置。

       仪器装载了两个X射线管，从而使用户能够简单地切换显微和宏观光束，可适用于一系列实验。这些光管传递的高强度光斑确保了最低的数据获取时间。而光管的单毛细管设计非常适合高强度的元素成像，甚至对于不平整样品同样有效。

       通过自动采样扫描很容易获得XRF面扫描图像，样品下方的第二次信号检测能同时收集X射线透射图像。这项技术可提供额外的结构信息，极有利于对兴趣区域的定位，或了解样本的内部结构。

特征

*最高的空间分辨率：

         HORIBA独特的X射线光管技术提供高空间分辨率微区XRF分析，X射线光斑直径小到10微米。这种最高强度的超细光斑，可进行快速无损的微细结构分析。                          

*X射线透射成像：

         结合XRF成像， XGT–5200可抓取透视图像。这可被用来进行内部结构分析，定性那些眼睛不可见的区域。用垂直束窄扫描完成后，得到清晰穿透图像甚至非平面样品，如圆筒形部件。                         

*完整地分析整个样品：

         该样品室可以容纳广泛的样品进行分析，从10 μm的微区功能的点分析，到10cmX10cm大面积分析。

*整合数据采集和分析的操作软件：

         直观的软件可以轻松地控制仪器硬件，快速采样的可视化和选择测量区域，全面的数据分析。功能包括自动峰识别，定量测量， RGB图像生成，线剖面分析。

規格

型号：

    XGT-5200

原理：

    能量色散型X射线荧光光谱分析法

检测元素：

    Na～U(试样在大气中)

样品形态：

    塑料、金属、纸、涂料和油漆等的液体(液体试样容器为可选项)，生物样品

样品室环境：

    大气

X射线光斑：

    10μm，50μm，100μm，400μm，1.2mm,3mm

X射线管：

    50kV/1mA, 铑（Rh）靶材

检测器：

    SDD硅漂移检测器

样品台：

    100mm×100mm(面扫描最大尺寸),

    200mm×200mm(可选)

样品室：

    400×350×40mm(可定制特殊尺寸)

光学成像：

    整体图像: 100mm×100mm (标准:400,000象素, 可选: 2百万象素)

    细节图像:同轴100倍放大

分析方法：

    定性: 自动定性功能,背景显示, ROI 颜色分辨, 匹配功能

    定量: FPM, 校准曲线, 有害元素 (Cl补偿,厚度补偿，电线补偿)

    测量导航: 条件设置, 定量分析l

数据管理(可选)：

    Excel® 数据管理软件,检测报告输出

电源：

    AC100, 120, 220, 240V  50/60Hz

重量：

    约 280kg

外形尺寸：

    680(W)833(D)670(H)mm