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4H-SiC上镀4H-SiC薄膜

品牌: 合肥科晶
产地: 美国
型号: 4H-SiC上镀4H-SiC薄膜 P 型
报价: 面议
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产品介绍

产品名称:

4H-SiC上镀4H-SiC薄膜P型(4H-SiC?Epitaxial?Film?on?4H-SiC,?P?type)

常规尺寸:

dia4" ±0.5 mm  x 0.525 ±0.025 mm 

技术参数:

4H-SiC薄膜晶向:<0001>

4H-SiC薄膜厚度(film target thickness):4.3um ±10%

4H-SiC薄膜厚度(film target doping layer) :1.4E17/cc +0% /- 30%

载流子浓度:(3~ 10)E16 /cc

导电类型:P型

抛光情况:双面抛光

4H-SiC基片晶向:<0001>miscut 8.0 +/- 0.5 degree,parallel(10-10);OF length: 15.9 +/- 1.7 mm

4H-SiC基片尺寸: dia 2 inch x330±25unIF orientation :90 degree cw. from OF +/- 5 degreeIF length:8.0 +/- 1.7 mm

4H-SiC基片电阻率:< 0.03 ohm-cm

4H-SiC抛光:Si面CMP单抛边缘排除:1mm

 

标准包装:

1000级超净室100级超净袋真空包装或单片盒装

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工商信息

企业名称

合肥科晶材料技术有限公司

企业信息已认证

企业类型

有限责任公司(中外合资)

信用代码

913401001490220724

成立日期

1997-06-19

注册资本

伍佰零肆万玖仟壹佰美元整

经营范围

材料制造、销售;科学仪器设备的生产、研发、销售及技术咨询;实验、测试及实验器械的租赁服务。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)

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合肥科晶材料技术有限公司为您提供合肥科晶4H-SiC上镀4H-SiC薄膜4H-SiC上镀4H-SiC薄膜 P 型,合肥科晶4H-SiC上镀4H-SiC薄膜 P 型产地为美国,属于仪表元件/仪表材料/仪表工艺,除了4H-SiC上镀4H-SiC薄膜的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多仪表元件/仪表材料/仪表工艺,合肥科晶客服电话400-860-5168转2205,售前、售后均可联系。

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