高强度合成绳索的拉伸试验

金属检测技术的局限性之一是对于像电线和大头针这样相对比较小的、长条形金属异物就很难检测出来。这些类型的污染物通常表现出“方向效应”，即金属探测器所检测到的信号很大程度上取决于污染物与探测孔的方向关系。方向效应给金属检测系统带来了挑战——这一挑战乍一看并不是那么严重，但事实上它可能会给消费者的安全以及品牌声誉带来严重的影响和危害。

超纯水机在后期使用中会因各种因素导致设备性能下降，所以为了确保延长设备的使用寿命，日常使用时就应该注意设备的维护和保养，那么导致超纯水机性能下降的因素有哪些呢?

智能设备的功能日益多元化，如人脸识别、测距、AR功能等。其中，相机在追求高分辨的 同时，还要求外形小巧、高倍率变焦。 本资料中的数据为测试示例，不代表真实数据，仅供参考。 注意：产品升级后，上述仪器的外观或技术参数可能会有变化。 图2 潜望镜式镜头的示例 通过搭载潜望镜式镜头，可以实现相机的小巧与高倍率变焦。传统相机镜头与智能设备垂直 放置。潜望镜式镜头平行于智能设备安装，从而实现设备的超薄化。此外，变焦倍率越高， 焦距越长，因此，需要一定的纵深空间安放镜头。传统镜头由于是垂直放置，增加焦距则需增加设备厚度，而潜望镜式镜头通过棱镜改变光路方向，将焦距所需要的厚度转化为与智能设备平行的长度，同时实现了超薄化与高倍率变焦。 此次实验，在日立紫外可见近红外分光光度计UH4150上加装微小棱镜测定附件，并使用专用支架※1，测定潜望镜式镜头中的棱镜。

近几年来，随着国内科技产业的不断升级，对微电子器件的需求日益增加。特别是高科技产品的快速发展，比如智能手机、电脑、无人机、新能源汽车、智能机器人等，对高性能微电子器件的需求更是呈指数级增长，这使得微电子器件自然而然就成为人们研究的热点材料。在微电子器件的研究中，通常需要对微电子器件表面进行各种加工、改性处理，来使其具有不同的性能。由于X射线光电子能谱仪（XPS）是一种表面分析技术，随着商业化XPS设备的普及，其在微电子器件研究中的应用越来越广泛，逐渐成为微电子器件研究中不可或缺的分析手段。 本方案通过赛默飞最新一代XPS表面分析平台Nexsa G2，对半导体器件表面形成的窄条形SnOx成分进行小束斑+特色SnapMap快照成像测试，展示如何通过设备小束斑+成像功能，快速全面分析这类特殊小尺寸半导体器件表面成分及其在面内分布情况，来辅助评估表面处理效果及器件质量。