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运用x射线荧光光谱仪检测铂首饰的纯度
2010-12-20 15:12
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目前，珠宝首饰行业普遍应用一种无损检测Pt首饰纯度的方法——x射线荧光光谱法，该方法具有快速、无损、精度高、多元素同时分析等优点。运用x射线荧光光谱法要求被测首饰的表面平坦且均匀度好，需要配有尽可能与其组成相似的标准样。由于有些贵金属元素的X射线荧光光谱特征十分接近，如Pt，Au，Ir，一般的测金仪很难将其分辨，在检测Pt首饰纯度时往往误将Au和Ir的质量分数归入到Pt的中，造成检测结果虚高口 ]。笔者在实际检测中也发现了因此而造成的标称纯度不足的事例。
综上可见，该方法主要借助X射线荧光光谱仪具有高精度、高分辨率、多元素同时分析及强大的软件功能等特点，采用标样校准、工作标样校正、样品台旋转、数学模型校正等方法，检测贵金属的纯度，其结果具有较好的精密度和准确度，能较好地解决样品大小、形状、成分对测试结果的影响，能适应日常委托检测的工作要求，较好地解决贵金属首饰无损检测的技术难题。
笔者在此指出，该方法虽然具有快速、无损的优点，但当样品纯度降低时，特别当Pt纯度低于80%时，其检测的准确度便会降低，可能是由于基体干扰大幅增加所致。笔者认为，在检测中应引起高度重视，针对实际样品的具体情况采取适当的检测方法，如采用有损检测或不同方法相结合验证，以取得更可靠的、精确的分析结果。
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