您好,欢迎访问仪器信息网
注册
北京富尔邦科技发展有限责任公司

关注

已关注

白金15年 白金

已认证

粉丝量 0

400-805-0715

仪器信息网认证电话,请放心拨打

当前位置: 富尔邦 > 解决方案
解决方案

Quantification of Sintering Aid in Optical Ceramics Using J200 LIBS Instrument

应用领域

建材/家具

检测样品

其他

检测项目

二氧化硅含量的变化
LIBS仪器可有效监测陶瓷制造过程不同阶段的二氧化硅含量的变化。这项研究表明J200 LIBS技术在对粉状样品、粉末压块和完全烧结的透明陶瓷进行快速的QC添加剂含量方面具有很大潜力。LIBS能够有效和高效地分析陶瓷材料,这些材料难点在于实现可重复测量的一致消解方面。此外,LIBS还提供了一种分析能力,用于可视化添加剂的不均匀性及其对制造光学陶瓷性能的影响。J200 LIBS仪器为陶瓷制造商开发和监测陶瓷烧结过程提供了新的分析功能,并通过严格的化学控制确保最终产品的zui佳性能。

1

美国ASI 激光诱导击穿光谱仪(LIBS)

J200

面议

查看更多配置单>>

利用应用光谱的J200 LIBS建立司法鉴定玻璃的信心

应用领域

建材/家具

检测样品

其他

检测项目

多元素
作为痕量证据的玻璃碎片有多种分析方法。玻璃的物理特性,如颜色、厚度、形状或纹理,可以作为第一次筛选进行直观研究。折射率(RI)也被用作将玻璃碎片与已知来源相匹配的技术。然而,单独RI不能区分某些玻璃类型。例如,浮法玻璃和容器玻璃的折射率值非常相似,尽管这两种玻璃具有非常不同的化学成分。此外,平板玻璃制造工艺的巨大改进,使得使用物理性质和RI的检测来区分非常相似的玻璃碎片的有效性降低。 在法医学调查工具箱中加入元素分析可以显著提高玻璃鉴定结果的可信度。在玻璃制造过程中会添加不同的微量元素,如改性剂、着色剂、脱色剂或精制剂。因此,以高灵敏度分析玻璃碎片中诸如Li、B、Al、Ca、Mg、K、Sr、Ti、Fe和Zr等元素的能力,是充分利用元素分析进行玻璃鉴别的关键。 激光诱导击穿光谱(LIBS)是一种新兴的基于等离子体光发射光谱的快速元素分析技术。与XRF和SEM-EDS相比,LIBS可以提供更高的检测灵敏度和测量更轻的元素。LIBS是一种保持样品完整性的微采样技术。LIBS的检测速度也非常快,单个样品的测量持续时间不超过几秒,这使分析人员能够收集大量的比较数据,以减少类型I(假阳性)和类型II(假阴性)的错误。本应用简报将重点介绍如何利用J200 LIBS有效地分析玻璃样品。

1

美国ASI 激光诱导击穿光谱仪(LIBS)

J200

面议

查看更多配置单>>

Building Confidence for Forensic Glass Analysis with Applied Spectra’s J200 LIBS

应用领域

建材/家具

检测样品

建筑玻璃

检测项目

多元素
作为痕量证据的玻璃碎片有多种分析方法。玻璃的物理特性,如颜色、厚度、形状或纹理,可以作为di一次筛选进行直观研究。折射率(RI)也被用作将玻璃碎片与已知来源相匹配的技术。然而,单独RI不能区分某些玻璃类型。例如,浮法玻璃和容器玻璃的折射率值非常相似,尽管这两种玻璃具有非常不同的化学成分。此外,平板玻璃制造工艺的巨大改进,使得使用物理性质和RI的检测来区分非常相似的玻璃碎片的有效性降低。 在法医学调查工具箱中加入元素分析可以显著提高玻璃鉴定结果的可信度。在玻璃制造过程中会添加不同的微量元素,如改性剂、着色剂、脱色剂或精制剂。因此,以高灵敏度分析玻璃碎片中诸如Li、B、Al、Ca、Mg、K、Sr、Ti、Fe和Zr等元素的能力,是充分利用元素分析进行玻璃鉴别的关键。 激光诱导击穿光谱(LIBS)是一种新兴的基于等离子体光发射光谱的快速元素分析技术。与XRF和SEM-EDS相比,LIBS可以提供更高的检测灵敏度和测量更轻的元素。LIBS是一种保持样品完整性的微采样技术。LIBS的检测速度也非常快,单个样品的测量持续时间不超过几秒,这使分析人员能够收集大量的比较数据,以减少类型I(假阳性)和类型II(假阴性)的错误。本应用简报将重点介绍如何利用J200 LIBS有效地分析玻璃样品。

1

美国ASI 激光诱导击穿光谱仪(LIBS)

J200

面议

查看更多配置单>>

Achieving Ultra-Sensitive Inductively Coupled Plasma – Mass Spectrometry (LA-ICP-MS) Analysis with the J200 LA Instrument: A Glass Sample Study

应用领域

建材/家具

检测样品

其他

检测项目

多种元素
LA仪器几乎无需样品制备,提供了分析固体样品的能力。当与ICP-MS仪器结合使用时,该技术检出限可达ppb及ppb以下。LA-ICP-MS可用于整体分析、深度剖面分析、元素/同位素制图或定量分析。

1

美国ASI 飞秒激光剥蚀进样系统(LA)

J200 LA

面议

查看更多配置单>>

北京富尔邦科技发展有限责任公司

查看电话

沟通底价

提交后,商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价,选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位
联系方式:

公司名称: 北京富尔邦科技发展有限责任公司

公司地址: 北京市海淀区知春路48号盈都大厦C-4-19E 联系人: 邮编: 100098 联系电话: 400-805-0715

仪器信息网APP

展位手机站