静电放电(ESD)是给或者从原先已经有静电(固定的)的电荷(电子不足或过剩)放电(电子流)。电荷在两种条件下是稳定的:当它“陷入”导电性的但是电气绝缘的物体上,如,有塑料柄的金属的螺丝起子;当它居留在绝缘表面(如塑料),不能在上面流动时。可是,如果带有足够高电荷的电气绝缘的导体(螺丝起子)靠近有相反电势的集成电路(IC)时,电荷“跨接”,引起静电放电(ESD)。ESD以极高的强度很迅速地发生,通常将产生足够的热量熔化半导体芯片的内部电路,在电子显微镜下外表象向外吹出的小子弹孔,引起即时的和不可逆转的损坏。
更加严重的是,这种危害只有十分之一的情况坏到引起在测试的整个元件失效。其它90%的情况,ESD损坏只引起部分的降级 - 意味着损坏的元件可毫无察觉地通过测试,而只在发货到顾客之后出现过早的现场失效。其结果是最损声誉的,对一个制造商纠正任何制造缺陷最付代价的地方。可是,控制ESD的主要困难是,它是不可见的,但又能达到损坏电子元件的地步。产生可以听见“嘀哒”一声的放电需要累积大约2000伏的相当较大的电荷,而3000伏可以感觉小的电击,5000伏可以看见火花。
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