三维形貌仪

NanoMap-1000WLI
NanoMap-1000WLI
NanoMap-1000WLI三维形貌仪是非接触式三维高清图像的光学轮廓仪白光干涉仪器 - 白光干涉带来了高的分辨率、 400万像素的图像、大的扫描范围，可定制的波长范范围，使用户可以轻松灵活的的到任何表面形貌。提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。
三维形貌仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度，台阶高度，二维粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三维粗糙度（Sa,Sq,Smax），划痕截面面积，划痕体积，磨损面积，磨损体积，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量。摆脱了以往只能得到二维信息，或三维信息过于粗糙的现状。将轮廓仪带入了另一个高精度测量的新时代。
测量表面可以覆盖90%以上材料表面。设备传感器精度高，稳定性好，材料应用面广。热噪声是同类产品最低的。垂直分辨率可达0.01 nm ( phase-shift mode) 可测跨学科、跨领域的各种样品表面，包括透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；
 
 
三维形貌仪
参数性能追寻持续改进的目标
 
AEP的技术致力于日新月异的改善产品性能参数。 欲了解最新的配置和性能，请与我们联系。
 
垂直分辨率          0.1nm，0.02nm
搭载多镜头          最多可同时搭载6枚物镜
平台范围               150毫米x 150毫米（可选200毫米或更大）
物镜倍数               0.5倍到100倍
Z轴聚焦范围       0.1纳米至10mm
手动旋转平台范围             360度
高清图像
 
2维、3维的直方图等视图
白光干涉可以呈现2维和3维图像。利用所提供的软件，通过设置一些选项、可以得到客户需求的的曲线、标绘、视图（例如直方图及雷达图等）
 
成像光源
长寿命强光LED，用户可自选波长范围
白光干涉仪对其光源承诺史无前例的十年质保。高亮的LED允许成像样品的反射率范围从小于0.4%到100%（高亮度的LED使反射率从小于0.4%到100%的样品均可清晰成像。）白光干涉光源承诺十年质保。
三维形貌仪允许客户改变可用波长扫描各种样品。
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