HORIBA DeltaFlex超快时间分辨荧光光谱仪

HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）荧光光谱仪可提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种耦联技术的解决方案。HORIBA Scientific从上世纪70年代起一直专注于TCSPC系统的开发，有四十多年的寿命系统研发和生产经验。寿命测试系统DeltaFlex凭借简单实用的特点，赋予了TCSPC系统新的定义。

DeltaHub——DeltaFlex的核心部件
· 超短的死时间（10ns）：配合高重复频率的激光光源和高速检测器，可实现无损失的光子计数，达到快速采集数据和准确的分析结果。
· 超快寿命测试技术：真正实现了荧光寿命动力学测试，采集时间低至1ms，支持1ms-10,000min无间断寿命动态监测。

新型脉冲半导体光源
    DeltaFlex配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源（四大类型，百种可选），即插即用，无需校准，免维护。
    其中DeltaDiode光源的重复频率可达100MHz，超快寿命测试可选光源，同时可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比，SpectraLED具有265-1275nm宽波长的覆盖范围，以及实用方便、测试速度更快和信号无拖尾的优点。

科研级模块化设计
    在DeltaFlex系统上无需更换控制器和检测器，即可实现11个数量级（25ps-1s）范围内的荧光寿命测试。系统采用科研级模块化设计，配合F-Link技术，可自动识别各类部件，软件直接接入、附件即插即用，满足升级需求。采用寿命拟合软件，免费开放数十种拟合功能，可独立于仪器操作。
       多种光谱仪可选，配合像差校正光栅，覆盖200-1600nm宽光谱范围，实现时间分辨发射谱功能，支持100条发射波长动态连续监测，软件自动获得衰减相关光谱参数。

    荧光寿命技术是科研中强有力的工具，可广泛用于物理、化学、材料、信息、生物和医学等领域。
主要特点：
· 寿命测试范围<25ps-1s
· 测试时间（低至1ms），实现动态反应分析
· 超微量样品测试，低至1μL
· 综合分析软件，5指数寿命拟合
· 高稳定性设计，使用维护简单
· 高度自动化，一键测量分析
· 大尺寸样品仓设计，附件兼容好
· 高性能荧光、磷光寿命测试功能

技术参数：
· 基于滤光片或单色仪实现波长选择
· 皮秒超快集成化PPD 光子检测模块（标配）
· 可升级NIR 检测器（~1700nm）
· 综合分析受命拟合软件，开放数十种拟合功能
· 标准液体样品架，加载温度传感器和搅拌装置
· 大尺寸样品仓，配置UV级光学部件
· F-Link 即插即用型交互界面

可选附件：
· 手动或电动偏振器
· 自动光学部件
· 红外扩展 PPD 模块 (如PPD-850C 或 PPD-900C)
· NIR检测器（~1700nm）
· 固体样品支架
· 多种控温装置可选
· 多种光源